EVMC6678 调试nanflash时出现bad block(坏块问题)

fendou

EVMC6678 调试nanflash时出现bad block(坏块问题) [复制链接]

各位TI工程师
   你们好，我在评估板evmc6678 调试flash，本来是用MSDK 提供写nandwrite程序去固话闪灯程序到flash中，发现一直出现有坏块的错误，Console 串口打印如下的信息： Bad blco # 1 detected , skipping block ....
                                    ................
                Bad blco # x detected , skipping block ....
                         ........................
               Bad blco # 4095 detected , skipping block ....一直到4095块全出现块错误！这里说明下，之前，板子的flash是ok的，可以固话成功；但后来，板子的SBW-MMC1电源接插件短路过，导致板子某处烧过，好像是2个稳压管烧了，后来换了，正常，那么问下，是否由于这个原因，影响到其他电路，导致的问题？
之后我也做了如下的尝试
1.检测了1.8v，正常；
1.换了同型号的nandflash芯片，任然一样，程序检测出都是坏块！
我想问如下的问题：
1.我单步调试，nandflash可以初始化成功，能否说明flash芯片读写是ok的？
2.我换了芯片，任然是坏块错误，全都是，是不是nand芯片是假的，有问题？
3.能给条思路，继续调试，现在不知如何处理?

白丁

可以把nand拿到其他板子上试一下，判断坏块一般是通过擦除block失败来判断，可以尝试erase，看一下返回结果。初始化成功不能代表读写没有问题。