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纯净的硅(高级)

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那些我们所忽视的电源测试问题 [复制链接]

一提到电源测试,我们首先想到的是纹波测试、过载测试、动态斜率。对于直流电源,用于评价直流纯净度的最好的测试方法就是纹波测试。对于过压、过流、过温,我们会进行过载测试。动态斜率是做电源响应速度测试时的参数。

 

问题之一:纹波测试

电压的波动一般分为两种:纹波和噪声,一般来说把低于500KHz频率的波动称为纹波,高于20MHz频率的一般不测试(属于干扰范畴)。 1、示波器带宽限制到20M,这个是必须的。耦合方式:交流耦合 2、示波器必须是浮地测试,也就是说示波器的供电三角插头的地线必须去掉,不与插板的地线相接。这个要特别小心,特别是电源电压较高的时候。 3、 探头使用X1的档位,您可以检查您测试时候的探头设置。哪怕电源输出电压较高。 4、探头使用近地端,而不是标配的带夹子的那根。一般从探头的近地端引出一个不超过2CM的线进行测试。 5、必要的时候在探头的两端并联电阻和电容,用于滤除高频信号。

怎么解决纹波过大? 6、调整LC滤波电路,增加开关频率。缺点:L不可能很大,C达到一定程度会滤波改善效果变差,开关频率高会增加开关损耗,降低转换效率。 7、增加二级滤波LC。优点,可以根据频率针对性的选择,滤波效果好。缺点:电压反馈点的选择,要靠后。并且引入一个新的LC电路会影响电源的系统稳定性。 8、增加LDO滤波,效果好,成本高,转换效率降低。 9、最简单有效的方法:二极管并联电容,或者并联阻容,或者串联电感。

 

问题之二:过载测试

电源作为电子产品或者电池的供电设备,除了性能要满足供电产品的要求外,其自身的保护措施也非常重要。如过压、过流、过温保护等,本次以恒压源的过流保护为例进行介绍。

图1:过流保护中的关系图

首先,过流保护,不仅要测试过流保护点,还要测试过流保护时间和保护稳定性。 过流保护点测试,也就是OCP(over current protection)测试。根据保护方式有3种,电流收敛甚至切断,恒流,电流增大。如果比较繁杂的大功率电源系统会分多个阶段,就不在这里讨论了。对于保护方式1,OCP点一般为额定值的110%到130%。

图2:过流测试的数据

以前,是手工去调整电流的大小,人工观察现象。但是手和眼睛的反应速度等因素导致要进行多次测量才能确定。费思负载机器本身自带OCP功能。 费思负载的OCP功能有两种方式:步进式(FT6300/FT6800)和分步式(FT66100)。 步进式(FT6300/FT6800)可以设置起始电流,步进电流,步进时间,触发电压(电压降幅)。负载会根据设定自动扫描,自动停止,记录测试结果的最大电流点,整个测试的最大功率点。

分步式(FT6800),可以设置起始电流,终止电流,步骤数,触发电压。并且还可以设定判断上下限,方便生产调试,负载会自动扫描测试。当然,也可以配合负载软件进行测试。负载软件不仅支持OCP,还支持OVP/OPP测试,并且可以进行U/I曲线扫描。 过流保护时间测试:使用费思负载动态模式的脉冲模式,来对电源或者电池的保护时间进行测试。时间分辨率1uS。如果不想用脉冲模式,也可以使用连续模式来进行测试,但是没有脉冲模式好用。

图3:动态模式

保护稳定性测试,当然是配合软件使用软件的动态模式,或者序列模式进行测试。动态模式如上图,序列模式如下图。

图4:序列模式

生产线测试过流保护:生产线测试过流保护就不用这么麻烦了。使用费思负载的自动测试功能,把过流保护分成两步测试,下限值,电源不保护,上限值,电源必须保护。这个逻辑判断即可。

 

问题之三:动态斜率

斜率本身定义为曲线的切线。也就是说,是指负载两个状态切换时变化的最大速度。但是在波形测量中,测试某个点的斜率是不容易实现的,所以,示波器等波形测量仪器、信号发生器等信号发生装置把斜率的测量定义为10%到90%的变化值除以变化时间。稍高端示波器会自动帮您进行卡位和测量。 如图所示:

图5:示波器的斜率测量

斜率的误差:示波器的带宽的定义,比如100M,就是示波器会对于高于100M的信号的幅值有超过3dB的衰减。探头等的带宽定义也是如此。所以一般测量,对于幅值,斜率的测量,3dB的误差实在允许范围内的。对频率,时间的精度要求较高。如果对波形的控制没有精确度标注的情况下,一般默认为±3dB,也就是±30%左右。

斜率的控制:电子负载的工作原理,是由DAC的电压信号来线性控制MOS的导通性能(这个工作方式与开关电源的开关型控制不同,负载使用的是线性MOS)。一般负载包括台湾的两个厂家,为了节省成本,会设计成几个固定的电阻电容回路来模拟控制斜率。这样会导致负载只能够实现几个固定的斜率,一般为4个。虽然可以设定,但是在很大的设定范围段内,无论怎么设定,斜率就是那个斜率,没有大的变化。有兴趣的朋友,可以试验一下。

 

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很多时候,对一些不容易发现的问题,都会因为影响不大,而有意的放过,真是隐患啊   详情 回复 发表于 2019-10-22 23:42
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纯净的硅(高级)

沙发
 
gk18965 发表于 2019-10-21 11:36 精辟,测试不对一切白费

是的。你这句总结也很到位呀

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示波器的斜率测量这个好玩,但没有搞过,见识了

谢谢分享

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很多时候,对一些不容易发现的问题,都会因为影响不大,而有意的放过,真是隐患啊

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