stm32内存压力测试

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请问，对stm32的内存进行压力测试，有什么好的方法没？

白丁

对内存压力测试啥意思，看看硬件好不好使啊？还是测速什么的

elvike

不明觉厉

ywlzh

写 读 检验 写 读 检验 写 读 检验 写 读 检验 写 读 检验 .....

周而复始 无穷尽也

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chunyang

先明确“压力测试”的概念和内容。

LcCode

ywlzh 发表于 2017-6-10 11:57
写 读 检验 写 读 检验 写 读 检验 写 读 检验 写 读 检验 .....

周而复始 无穷尽也

嗯，我就是想问有木有什么好的校验算法。比如CRC之类的。

LcCode

chunyang 发表于 2017-6-10 15:55
先明确“压力测试”的概念和内容。

就是在不同的温度下对32的内存不停的进行读、写、校验。看读写的数据是否是一致的。这里我想问的是有什么好的校验算法来对数据进行检验没？

LcCode

elvike 发表于 2017-6-10 01:28
不明觉厉

没想的那么高级，都是些基本的事儿。

LcCode

白丁 发表于 2017-6-9 20:42
对内存压力测试啥意思，看看硬件好不好使啊？还是测速什么的

嗯，就是检测内存在不停的读写中会不会出错。当然，测速也是其中一环，但是没有什么好的测速的方法。

chunyang

LcCode 发表于 2017-6-13 09:30
就是在不同的温度下对32的内存不停的进行读、写、校验。看读写的数据是否是一致的。这里我想问的是有什么 ...

写入特定的一组数据，然后读出直接比较就是，或者简单做个累加和校验也就行了。不过，你的这个测试纯属多余，ST的产品只要在器件手册载明的工作温度范围内，随你怎么对内存读写多少次都决不可能出错。甚至别说ST这样的大公司了，就是国内的山寨厂也不会有问题，内存存在质量问题在本质上就是一件微小概率事件，且跟温度（器件准许的范围内）无关。不过，可别把FLASH程序存储器当成“内存”了，完全不同的概念，内存是RAM，而FLASH有擦写寿命限制。

LcCode

chunyang 发表于 2017-6-13 15:12
写入特定的一组数据，然后读出直接比较就是，或者简单做个累加和校验也就行了。不过，你的这个测试纯属多 ...

嗯，这个知道。只对SRAM的128k的空间在进行测试。知道这个出问题的概率纯属小概率事件，可公司要求进行测试。我原来用了一个数组进行检测，又要求说最好用个校验算法来进行检测，我也很无奈啊。打算用CRC校验了。

chunyang

LcCode 发表于 2017-6-14 09:27
嗯，这个知道。只对SRAM的128k的空间在进行测试。知道这个出问题的概率纯属小概率事件，可公司要求进行测 ...

用累加和足矣，当然CRC也没什么难的。