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普通IO口测阻值,当AD口使用的验证 [复制链接]

本帖最后由 long521 于 2016-12-26 09:05 编辑

普通IO口测温,比较这个方法,我以前在一些书上看到,最近亲自验证了一番.主要是因为有了一块PIC的开发板,哈哈,可以用实物验证.
首先这具测试的方法呢,从书上得出来有二种,一种是三线,一种是一线,一线就是用一个普通的IO口就可以模拟了,先介绍一下三线的方法,一线接被测,一线接标准,一线接放电和充电,电容可以接VCC或GND都可以.具体操作分三步,以接GND为例,充电,放电测,充电,放电测,对比,得数据.
这个10K值,我测了一下,1US跑一个NOP的时候,需要2个字节,225 22,当然,如果电容不一样,这个值肯定是不一样的,我只是验证了这个方法确实可行,在一些小的东西,还是有使用的价值.当然,如果是用的大芯片,本身自带AD,那这个方法也是没有太大的意义的.不过能亲自验证一下,实现一个没有动手验证的东西,是充满乐趣的.
本来还想放一些MPLAB X的具体截图,因为是临时想到发贴,下次有空再补上吧.
感谢EE,和大家分享我的经验,哈哈.

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普通IO口模拟AD采样,之前公司用PIC的时候在一些低端的芯片上考虑过这个事情。不过现在的单片机资源越来越丰富,这种靠电容充放电的取样方式也不会用到了  详情 回复 发表于 2016-12-26 09:38
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普通IO口模拟AD采样,之前公司用PIC的时候在一些低端的芯片上考虑过这个事情。不过现在的单片机资源越来越丰富,这种靠电容充放电的取样方式也不会用到了
 
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