来源:今日电子
偶然的机会,笔者将一个损坏的Φ5白光LED(用指针式三用表1k挡测LED的阳极及阴极的电阻,两表笔正反测量时都几乎为0Ω)的阳极及阴极之间加上3.2V正向电压时,发现LED能够正常发光。
为什么损坏的白光LED还能正常发光?笔者经过思考、实验和计算后,画出受损的白光LED的等效电路,分析得出了损坏的白光LED仍能发光的原因。本文将相关的实验、计算及分析提出来供读者探讨。
简单的白光LED照明灯电路
近年来,Φ5超高亮度白光LED的发光强度提高到8000mcd以上,一些视角小的则可达到15000mcd以上。因此不少单位试制、生产白光LED的小功率照明灯泡(1~3W),采用18~36只LED,用220V交流电压供电,经电容降压、整流后,驱动白光LED组成的串、并联电路如图1-a及图1-b所示。图1-a是一种较简单的驱动LED阵列电路,图1-b在电源输出电路中增加了一个稳压二极管,防止LED串过压造成的过流,避免LED损坏。
图1 1-a简单驱动LED阵列电路
图2 1-b带有稳压二极管的驱动LED阵列电路
这种电容降压式驱动电路在市电电压稳定时可提供近似恒流的电流IOUT,IOUT与降压电容C1的容量有关:C1 = 1μF时,IOUT为60mA左右(由于C1一般有±10%允差,IOUT约有60mA ±15%的允差)。
这种LED电源(驱动器)电路的特点是电路简单、元件少、体积小(容易直接装入E27螺丝灯头来取代白炽灯泡)、成本低。但其缺点是缺少完善的过压、过流保护,当市电中有干扰信号输入或开关接触不良(或电源插头与插座配合不良),容易在接通电源时产生脉冲使LED过压、过流而损坏。
LED损坏原因的分析
由于这一类电容降压式驱动电路十分简单,没有稳压、恒流供电,并且没有完善的保护电路(过压保护及过流保护),因此在使用中容易损坏LED。虽然图1-b电路中设置了过压保护的稳压二极管,但在稳压二极管击穿电压取得太大时,往往起不到保护作用。例如,白光LED的正向压降VF值有一个离散性,其值为3.0~4.0V,典型值为3.3 ~ 3.5V。若每串LED由6个LED组成,则ΣVF为18~24V。若稳压二极管的击穿电压取2.5V,而实际LED串的ΣVF为19.2V时,这种稳压二极管往往起不了保护作用。
为了使LED灯能发出更亮的光,设计者往往取较大的工作电流。一般Φ5白光LED的额定工作电流IF=20mA,其峰值电流可达到100mA(加的是窄脉冲)、极限工作电流是40mA。如果为了增加亮度,将工作电流取得大于30mA时,则较容易损坏LED。
另外,从发光二极管的输出特性中也可以看出(如图2所示):特性曲线是较陡的。VF增加一个小的电压△VF,相应会产生一个较大的正向电流△IF。 △VF增加零点几伏,△IF可得增加十几到几十毫安。这就有可能使LED过流而损坏。
图2 发光二极管的输出特性曲线(VF/IF的正向降压/电流)
其次,在串、并LED的结构中,由于其VF有一定的离散性,若没有测量VF及分选,则有可能各串LED的ΣVF有较大的差值,造成各串的内阻不同,使并联的LED不能均流。电流分配不均匀会使电流大的一串中的LED受损。
最后还要指出的是,生产Φ5白光LED的厂商极多,良莠不齐。一些电子市场出售的白光LED不能提供生产厂家的产品参数,性能往往不能保证。虽然发光亮度不错,但寿命较短。
损坏的白光LED的测量
Φ5白光LED的正向压降VF为 3.0~4.0V,其大部分在3.0和3.5V之间(IF=20mA的测量值)。良好的白光LED用指针式三用表1k挡测其阳、阴极时,表笔正反测指针都不动(电阻为∞),LED灯不亮;若用3 1/2位数字式在二极管挡测LED时:正表笔(红色)接LED阳极、负表笔(黑色)接LED阴极,指示为1,但LED会亮;当将表笔倒过来测时,指示为1,LED不亮。
用指针式1k挡测损坏的白光LED时,有以下两种情况:LED的阳极及阴极之间电阻都是∞,说明LED的阳极与阴极之间已烧断(这种LED已彻底烧掉,不会再亮);用表笔正反测出LED的阴、阳极引脚之间有一个电阻Rx。Rx的值从几十欧姆(用指针式1k挡测,指针指示0Ω)到十几千欧姆。这种损坏的LED还会亮。
用数字式三用表测损坏的LED时,上述第1种情况用二极管挡测LED不亮;第2种测电阻时,其阻值基本上与指针式测量相同。
损坏的LED仍能发亮
一个偶然的机会,笔者将阳极与阴极之间电阻仅为62Ω的损坏的Φ5白光LED接入图3所示的电路,电压从0V开始增加,当电压增加到2.8V时,白光LED微亮(与正常LED没有区别)。这现象使人惊奇:损坏的LED“复活”了。为什么正反电阻接近短路的LED,加上3.4V电压后居然与好的LED一样发光。进一步测其工作电流IF,其IF=66mA,要比正常白光LED大得多。
图3 测量损坏的白光LED的电路
用同样的方法,又测试了几个不同阻值的损坏的发光二极管(几百到几千欧姆),每个LED在电压3.0~3.2V时都亮(亮度正常,仅电流比正常值大)。
笔者对这一现象进行思考、实验、计算及分析,得到了一个初步的解释,并通过实验及计算得到证实。
损坏的LED等效电路
从上面简单的实验及测量得到的概念是,LED能亮,并且发光正常,说明LED的PN结没有坏;用三用表正反表笔测量出一个电阻值,说明此电阻与发光二极管是并联的。可能过热状态时PN结构上有部分半导体已变成导体。画出来的等效电路如图4所示。与LED并联的电阻值与损坏程度有关:损坏程度小时,阻值可达十几千欧姆,损坏程度大时,阻值仅1~2kΩ;若损坏很严重时,其阻值仅几百甚至几十欧姆。这种情况LED已“烧毁”(与损坏体作一区别),虽然电阻为62Ω时LED还会亮,但寿命不会长,应视为己烧毁。由于这个并联在LED上的电阻值不同,取名为Rx。
图4 损坏的LED等效电路
实验与计算
前面提到Rx=62Ω的损坏白光LED,在VF=3.4V时,测出电源输出的电流IOUT=66mA。则可以计算出流经Rx的电流IRx及流经LED的电流IF。
计算公式如下。
IRx=VF/RX,式中VF是LED的正向电压降,Rx是LED内部并联在LED上的电阻值。
IF=IOUT-IRx,式中IF是流经LED的PN结电流。
按此公式计算得,IRx=55mA,IF=11mA。由结果可知:虽然LED亮度正常,但在Rx上白白地浪费了55mA。这种LED还是不能用。此实验的测量电路如图5所示。
图5 实验的测量电路
为了获得更多的数据,并提高测量精度,测量电路改成图6所示。采用精度1%的100Ω电阻作限流电阻,并利用测此电阻的电压降来间接测电源的输出电流IOUT(此测量方法比用串接电流表测电流更准一些)。
图6 修改后的实验测量电路
实验测试了3个Rx数值较大的损坏LED的样件,其测试数据及计算值列在表1中。为了对比,又选择了2个Rx数值较小的损坏LED的样件,其测试数据及计算值列在表2中。在表1中,Rx的电阻值是采用31/2位数字式20k挡测量的,V1(测100Ω上的电压)、V2(测损坏的LED的正向电压)是31/2位数字式三用表直流20V挡测量的。
表1中输出电流IOUT=V1/R。例如V1=1.8V,R=100Ω,则IOUT=1.8V/100Ω=18mA
表2中Rx是用数字式31/2位2k挡测的。序号为5的试件,由于Rx值太小,在V1=3.78V时,V2才1.22V,所以LED不亮。此时IRx已经114.5mA。若增加输入电压VIN值,LED灯还会亮,但IRx已太大了,亮不了多久就会过热而烧毁。
分析及推断
根据表1、表2的实验数据及计算值可得到以下结论。
● 受损的LED中当其Rx≥2kΩ时,还可用。推算如下,Rx=2kΩ时,IRx约1.6mA,损耗不太大。若Rx≥5kΩ,则IRx约为0.5mA,影响不大。但这种LED不能再用于LED照明灯,用于小电流的指示灯较合适。
● 在Rx<2kΩ时,可靠性差,可认为已损毁,不能再用。
● 在串、并联阵列的LED结构中(照明灯、指示牌等),每串ΣVF应相等(目前批量生产的LED已分选,其VF的差值不超过0.2V)。若各串ΣVF不等则每串的电流不等,电流大的一串易损坏LED。若一串中有一个或几个LED损坏时,则ΣVF会减小,IOUT会增加,有可能使同一串中的其他LED相继过热而损坏。例如,在图7所示的3串2并的LED电路中,V1用来间接测量电源输出电流,V2测ΣVF值。当一串中有一个LED损坏(用虚线框表示),则V1值增加,V2值降低。V2减小说明ΣVF减小。若第一串LED无损坏,IF值减小,而LED有损坏的一串在电流增加后则有可能在这一串中相继再损坏LED。
图7 3串2并的LED电路
● 在驱动LED阵列中,LED的损坏主要是驱动电路的保护电路不完善所致(无论是LED灯或LED显示装置)。另外,一定要选择名牌厂家生产的LED,质量可靠;工作电流选额定值70%为好。
● 笔者正在实验一种能抗瞬间脉冲的过压保护电路,需要一段时间考验才能证实是否有效。