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一粒金砂(初级)

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相位噪声与艾伦方差测试仪53100A [复制链接]

53100A相位噪声分析仪可测量高性能的幅值、相位和频率稳定性射频源。载波频率支持1MHz ~ 200MHz。53100A告诉你所有你需要知道的关于你的设备的稳定性特性,从飞秒到天的时间尺度。从使用在台式或嵌入到机架式ATE系统,小尺寸和行业领先的测量速度使该测试集适用于多种应用。

可选IR和STD为仪器配备内部参考振荡器,实现真正的交钥匙操作。消除生产线上昂贵的参考源,或者通过利用多用途的训练能力来执行交叉相关测量来提高现有房屋标准的稳定性。用作频率参考。外部可访问的50Ω参考连接为需要高质量100mhz源的各种应用提供了最大的灵活性。选项IR(-001):双独立的100 MHz参考支持低于-170 dBc/Hz的相位噪声测量和靠近2E-13 @ τ=1s的Allan偏差测量。选项STD(-002):为配备选项IR的单元添加微型原子标准,实现长期漂移和精确的原子精度频率测量。

频率测量范围:1 to 200 MHz
艾伦方差(t=1s):7E-15 (5E-15 typical);艾伦方差: (t=1000s)2E-16 (1E-16 typical)

频率范围偏差: 0.001 Hz to 1 MHz

系统本底:
Offset             5 MHz Carrier              100 MHz carrier
1 Hz                –140 dBc/Hz                 –120 dBc/Hz
10 Hz              –152 dBc/Hz                 –130 dBc/Hz
100 Hz            –164 dBc/Hz                 –145 dBc/Hz
1 kHz              –172 dBc/Hz                 –160 dBc/Hz
10 kHz            –175 dBc/Hz                 –170 dBc/Hz
>100 kHz        –175 dBc/Hz                 –170 dBc/Hz
Spurious:(5 to 100 MHz) –100 dBc    –100 dBc

53100A-Phase-Noise-Analyzer-00003430.pdf

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