【NUCLEO-L552ZE测评】+AT24C32的读写操作实验

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    在我的DS1307日历模块中包含了一块AT24C32EEPROM芯片，这块芯片正好准备以后存放蓝牙设备的相关数据，因此首先测试对AT24C32的读写操作。本次测试仍然是使用模拟I2C进行，这块EEPROM有32K（4096*8）容量，由于地址大于256，因此需要双字节内部地址，与一般的I2C操作的区别是内部地址要先发送高8位，再发送低8位，除此之外操作是相同的。

    我的测试是以秒为周期，先读出存储在AT24C32芯片中的日期字符串（即年月日时分秒），然后再将当前的日期字符串写入到AT24C32k中，以便下次读取，即当前屏幕上显示的字符串是上一秒保存进去的。测试过程的照片如下：

 

    屏幕显示如下：

 

    这是测试效果的动画，因屏幕的亮度偏低，观看效果差：

 

    下面是测试的代码：

void AT24C32_Test(void)
{
    uint8_t Txt[16];
    SI2C_16bitBuffRead( 0xA0, 0, 16, Txt);
    LCD_write_ASCII(0, 5, 1, Txt);
    Txt[0] = 'D';
    Txt[1] = year / 1000 + 0x30;
    Txt[2] = year % 1000 / 100 + 0x30;
    Txt[3] = year % 100 / 10 + 0x30;
    Txt[4] = year % 10 + 0x30;
    Txt[5] = month / 10 + 0x30;
    Txt[6] = month % 10 + 0x30;
    Txt[7] = day / 10 + 0x30;
    Txt[8] = day % 10 + 0x30;
    Txt[9] = hour / 10 + 0x30;
    Txt[10] = hour % 10 + 0x30;
    Txt[11] = minute / 10 + 0x30;
    Txt[12] = minute % 10 + 0x30;
    Txt[13] = second / 10 + 0x30;
    Txt[14] = second % 10 + 0x30;
    Txt[15] = 0;
    SI2C_16bitBuffWrite( 0xA0, 0, 16, Txt);
}

 

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感谢分享！AT24系列的还是比较常用的！