元器件低温筛选可靠性问题

wacy0607@

元器件低温筛选可靠性问题 [复制链接]

您好，我选用的芯片一般使用工业级，处理器或者存储器的低温温度范围是-40℃以上。

但是由于产品要求，需要使用-45℃进行筛选，

请问这种超温筛选会对器件造成硬损伤吗？

如果筛选没有出现问题，对器件后续使用的的可靠性如何影响？

maychang

低温一般不是破坏性的，不会对芯片造成损伤，至多是芯片不能正常工作。温度恢复到正常范围后，芯片仍可正常工作，对可靠性一般也没有多少影响。

wsmysyn

本帖最后由 wsmysyn 于 2019-5-5 10:16 编辑

一般影响不大。

芯片出厂前，wafer可能本身就是在低温环境下测试的，比如在-40度低温箱中进行测试。我们曾经这么干过，wafer在25度，-40度和85度进行三温筛选。封装以后，也需要做一次可靠性测试，比如高温或者低温300小时等等

温度再低一些，一般只是对芯片的晶体管参数有影响，比如功耗降低，某些通信接口，或者内部逻辑，时钟频率或者信号沿发生变化，一般不会损坏芯片的。注意一些时序变化就可以了。一般-40度到-45度变化不是那么明显的。。如果只支持0-70度的，放到低温-45，参数可能会有很大变化的。主要是和芯片设计工艺相关。比如有的芯片，常温条件内部时钟10kHz，-40度的时候时钟可能就15kHz了。高温85度的时候只有7kHz。。。