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在项目开发中,至关重要的是保证产品运行的可靠,如果遇到异常,能否恢复很重要,而不是像砖头一样,程序死在某个地方。固件升级的原理就是重写向量表,在引导区更新app区的flash,然后跳转app区。实际开发中就会有以下问题:
1.如果MCU复位,比如POR,PDR,WDT等复位,都会使sp指针指向复位地址。那么MCU从引导区执行,如果APP区程序有效,应该如何控制程序跳转到APP区。
2.如果APP区或者引导区接受新固件,在更新APP区flash时,如果此时MCU发生掉电,当再次上电后,MCU该如何执行。或许有人说,我们有外部的EEP或者外部的FLASH,会使用状态和标志去记录当时MCU操作flash的状态,当然这些状态和标志有校验,并且存储到外部EEP或FLASH。上电后我们会判断校验,然后读出来作为依据。在理想情况下,这样做非常完美,但是MCU在运行中,什么情况都可能发生。比如电源掉的很快,那么算出来的校验有什么意义,还怎么保证写到EEP或FLASH的可靠性,特别是有外部FLASH,几ma的
电流MCU瞬时根本扛不住。即使是EEP,就算将引导区配置成最低功耗,这种意外也是不可避免的,此时的标志和状态只是徒劳。那么会造成一种MCU假死状态,滞留在引导区,然后死循环。如果要解除,只能通过仿真器进入仿真模式,更改变量值去解除。而这样的后果就违背了升级的初衷和产品的可靠。
3.对于新固件的更新,是接收全部数据再更新还是接收部分数据更新FLASH,这个具体依据自己使用的硬件资源,不过重点还是在于第二点的处理。
4.如果升级过程中,传输数据或读取数据突然中断,或者新的固件验证失败,那么这些操作该如何恢复,而不至于MCU假死。
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