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TLP3547评估板评测报告——第二:测试篇 [复制链接]

  本帖最后由 飞扬自我 于 2018-9-4 12:21 编辑




          TLP3547评估板评测报告——第二:测试篇

         接《TLP3547评估板评测报告——第一:开箱篇 》继续上路,进行性能测试,先是焊接线缆,这个小小的测试板管脚有点扛不住烙铁370°的高温,焊接线缆的时候管脚有点出现松动和歪斜的情况,不过不影响性能,,,

   测试的原理图如下:







测试前准备:

信号发生器 1台(频率和幅值可调)

开关电源  1台(电压可调,具有限流功能 30V2A)

电子负载或者大功率水泥电阻(24Ω/150W)

双通道示波器 1台


测试图如下


测试评估板部分特写。




上图之前先入为主的认为光耦在1K频率下是正常工作的,所以一开始就设置信号发生器的方波输出频率为1Khz,50%占空比,12V幅值,

4脚接上电源的正极,电阻的另一端接负极后打开仪器,发现电源的输出电流为0A,也就是没打开,难道是电路设计有问题?再检查了一遍,正确的啊。好吧,改了一下输出频率100Hz,终于导通了,才猛然觉悟这个是一个低频的光耦继电器,给自己一个大大的耳光了,,,,

     经过调整测试信号的频率,发现10Hz输出波形比较完整,所以测试开关延时,和波形都是在10Hz以下测试。


   一:开关导通和截止延时

    5Hz的控制信号下的控制信号和继电器输出波形对比,相对来说还是比较完整的,



    测量开关的导通延时,测量得到T导通延时=2.98ms。这个延时还是比较严重的。。不过相对于低频的开关继电器应用来说还是可以接受。。。


   截止延时T=100us,截止还是非常好的,而且从波形方面分析也很不错,截止很迅速。。



二,最大的开关频率(从波形完整方面评估)

       10hz时候波形相对比较完整,只有在上升(导通)的时候有一点的延迟,不过导通后波形完整,不会 有很大的导通电阻,产生很大的损耗(主要是管子的发热)


     在100Hz的时候波形已经几乎开不到完整的完全导通的阶段了,整个阶段都在开和关中进行,特别是导通的时间非常长,这段时间内的电阻是变化的而且整个过程都是在消耗功率的,所以器件会非常热,从应用方面来说应该是最大的开关频率了。



三,不同频率下的电流

在10hz的时候30V供电下输出电流为0.61A


在100hz的时候30V供电下输出电流为0.33A,电流减少了一半,



四:工作温度(特别提醒:我今天评估板也出现了过热烧毁的情况,大家测试温度和负载的时候需要特别注意温度,负载和开关频率的选择

    1,先在10Hz的频率下测试,这个阶段温度还是比较好的,温升不是特别明显,具体原因可以看上面的波形分析,这里就不再赘述了,

   附上测试的小视频:



    2,在100Hz的频率下测试。这个没有拍到短视频,器件一发热烧了就忙着关电源,视频没保存好,所以只能看最后留下的测试现场了,

温度计显示外部温度达到60°以后波形就输出迅速截止了,接着就出现了异味,这个不用猜就是已经烧毁了,

   留下了的现场1,温度计显示60.3°,温度传感器直接与光耦继电器贴到一起的,所以是外部温度。




拆了温度传感器,发现芯片的一角已经出现了黄糊的颜色,已经烧毁,



最后的电阻负载和光耦继电器一起合照





总结:这次样品的测试没完成全部的测试项目样品就出现了烧毁的情况,是一个很大的教训,需要回去面壁。但是通过本次的测试发现TLP3547光耦继电器属于低速器件,应用场合最好控制在开关频率10Hz以下的场合;如果大于10Hz的场合建议自行继续试验测试;不太合适应用于等于或者大于100Hz的开关频率场合上,这样会发热严重而且发热量很大,温控难度大,容易烧毁芯片。。。
       本次在100Hz的控制频率下输出电流只有0.33A的情况下芯片烧毁的时间约为30S,而且芯片的热阻相对有点大,芯片烧毁时刻的外部温度约60度,过了3s左右热才从芯片内部导出来,温度可以到达70多度,以后还可以进行芯片的后续优化,改善芯片的散热方式。。。








10hz测试温度.mp4

10.83 MB, 下载次数: 26

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要不要把评测隐藏的更深,差点就把你列入收板子行列 一般评测都是以主题帖分享,不是跟帖分享,如果没看飞扬自我的跟帖,你的这个就错过啦  详情 回复 发表于 2018-11-6 11:47
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感谢分享测试报告!
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本帖最后由 dingzy_2002 于 2018-9-5 16:50 编辑

由于我申请的评估板还没有到手,目前不能重现你的问题,但我对LZ的测试方法还是有疑问的,主要是:1.延时时间,TLP3547的延时时间,是根据输入端的LED电流变化的(见数据手册Fig. 14.1.7):
从LZ的说的2.98ms,说明信号源驱动电流位于5mA左右,如果驱动电流更大点,延时时间将会更短。
另外,TLP3547是作为替代常用的继电器使用的,而常用继电器的控制延时一般都比较大,达到几十ms级别;
TLP3547的延时时间能满足替代使用的。
2.关于10/100HZ测试,30V/0.33A在30S后烧坏问题:  上面提到TLP3547是作为替代常用的继电器使用的,那么普通继电器能在100HZ下通断工作吗?
   国家标准上,继电器的通用测试标准是通1秒、断9秒;
   机械行业标准,一般用的是通2秒断2秒的方法测试;工作频率远低于1Hz;
  从LZ的测试波形来看,损坏主要在导通时,器件的导通损耗过大过热烧坏的。


 
 
 

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一粒金砂(高级)

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本帖最后由 飞扬自我 于 2018-9-6 10:18 编辑

基于楼上的疑问做个回复:
1,关于驱动电流:使用的是12V的信号进行驱动,经测量串联的电阻阻值为1.5kΩ,查看了数据手册Vledmax=1.8V(If=10ma)姑且就当做压降为1.8V吧。I=(12-1.8)/1.5=5.66mA。对此数据手册延时确实是2-3ms,我现在使用的12V供电,在应用上面供电电压很常见,再有就是大驱动电流下开关延时确实是减少了,但是这样会导致器件的使用寿命变短,可靠性变差,所以一味提高驱动电流来提高开关延时是不可取的做法吧。
      延时2-3ms在替代机型继电器上面确实是可以满足要求,但是感觉这个这么好的器件就只替代机械继电器吗?感觉有点先入为主的赶脚,是否可以做一些隔离型的开关功能替代MOS呢?如果这样对于延时就有必要测试一下进行评估了。。
2,对于机械继电器的开关楼上确实列出了不少标准,但是正像我上面第1点提成的一样,不能只做替换机械开关作用吧,固态继电器能否替换呢?替换MOS功能可以吗?这种带有隔离的应用在工业中使用非常广泛,所以都是一个很好的选择,那么进行测试一个开关频率极限值就有必要了,
   对于我提出的100Hz测试,损坏的原因也在测试波形的时候进行了分析,确实是都损耗在开关损耗上了,导致大热量大增,才会烧坏。但是应用在开关频率10Hz这样的场合还是很不错的,这样替代低速的开关完全可以胜任。。
 
 
 

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一粒金砂(中级)

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刚收到评估板,就抽空测试了。
输入电压 输入电流
-------- --------
5.0V     2.33mA
12.0V    6.94mA
24.0V    14.88mA
这样 Pmax = 0.36mW

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你这个Pmax只是控制端的功耗,一般来说导通电流越大开关速度也快,但是相应的使用寿命也相应会变短,衡量应用场合和可靠性是一个设计师的修为。。。。  详情 回复 发表于 2018-10-9 17:49
 
 
 

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一粒金砂(中级)

6
 
根据可能的应用,负载采用10欧姆电阻,5VDC供电。分别采用5V、12V和24V驱动,测试延时,约为1-4ms。 5VDC驱动


12VDC驱动


24VDC驱动


以上测试均和提供的数据表一致。原计划测试和MCU接口进行驱动可以通过此应用实现。

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nmg
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一粒金砂(高级)

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楼主威武,视频还带解说,给力
建议:
1、开篇测试前的准备,所用到的仪器仪表的型号也写上去
2、测试方案写个清单

谢谢!

点评

测试现场都是现搭的,基本就是示波器,开关电源,信号发生器,温度计,做负载的150w 24Ω水泥电阻。。。  详情 回复 发表于 2018-10-9 17:46
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湖边草,俯仰若有情。岁月千载如流水,人生一世似漂萍,何必求浮名。

 
 
 

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dfwisdom 发表于 2018-10-8 08:53
楼主威武,视频还带解说,给力
建议:
1、开篇测试前的准备,所用到的仪器仪表的型号也写上去
2、测试方 ...

测试现场都是现搭的,基本就是示波器,开关电源,信号发生器,温度计,做负载的150w 24Ω水泥电阻。。。
 
 
 

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seikmann 发表于 2018-10-6 17:31
刚收到评估板,就抽空测试了。
输入电压 输入电流
-------- --------
5.0V     2.33mA
12.0V    6.94mA ...

你这个Pmax只是控制端的功耗,一般来说导通电流越大开关速度也快,但是相应的使用寿命也相应会变短,衡量应用场合和可靠性是一个设计师的修为。。。。
 
 
 

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seikmann 发表于 2018-10-6 17:37
根据可能的应用,负载采用10欧姆电阻,5VDC供电。分别采用5V、12V和24V驱动,测试延时,约为1-4ms。5VDC驱 ...

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