NI SMU - 电性能测试的最佳选择

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NI SMU - 电性能测试的最佳选择 [复制链接]

50倍测量速度，告别过时旧系统；
4通道，满足高密度测量需求；
智能化的测试；
这些，这些你都想拥有吗？
现在NI PXL SMUs 全部能够满足你！

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    源测量单元(SMU)可同时控制与量测高精度电压、电流，专为消费性电子产品、IC设计与验证、生医、学术研究等实验室提供电性能测试。


    美国国家仪器(National Instruments, NI)为自动化测试的领导者，透过PXI平台、源测量单元与其他模块化仪器，为用户提供定制化、弹性扩充与高精度测试解决方案。


满足多种仪器功能，提供高精度测试需求


分辨率：100 fA 或 100 nV
取样率：1.8 MS/s
性能：整合高精度供电电源、数字万用表，单一通道同时控制与量测电压、电流
优势：提高量测精度，降低硬件成本。不需复杂接线，透过高速采样率与可程控电源供电，提供相当于示波器、信号发生器、脉冲发生器与电子负载等功能
               



   
      


系统级SMU – 多信道同步、易扩充

    传统SMU测试系统，需透过仪器控制才能由PC控制，同步效果不佳、不俱可扩展性和灵活性。NI SMU 使用 PXI 平台，利用 PXI 高速传输低延迟的特性，提升10 倍传输速率。透过PXI 背板与模块达到通道间、机箱间的同步，系统规划扩充方便。>> 深入了解汰旧换新优惠方案


独特负载响应控制 – 优化DUT测试



NI SMU提供10 μs反应速度，搭配NI SourceAdpat Technology专利技术，可针对特定负载提供定制化调制，优化DUT测试。>> 深入了解汰旧换新优惠方案





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全套双通道系统包含：
机箱：PXIe-1071
控制器：PXIe-8820
模块：PXIe-4137两组或PXIe-4139两组
应用程序：可直接进行测试控制
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