大家来看一下IAR编译器的调试问题

liutogo

大家来看一下IAR编译器的调试问题 [复制链接]

之前用IAR调试Ti的CC2530（core：8051），现在用IAR调试Freescale的FRDM-KL25Z（ARM Cortex-m0+）。
在之前调试CC2530积累了一些经验，就是在调试的时候将IAR的大代码优化等级调整低一些，便于调试
主要体现在：单步的时候当前代码不会乱跑，Watch监视窗设置的变量能够被监视（优化等级高会导致，即使代码已经进入了某变量的作用域，但是无法在监视窗查看该变量的值）。
不过最近用IAR ARM （FRDM-KL25Z刷Jlink板载调试器调试）将代码的优化级别调成None，在观察串口寄存器的时候，无法显示寄存器的值，这让我很是疑惑，请各位过目，讨论讨论如何解决。

从寄存器监视窗和Local uartch1（指向UART相关寄存器的结构体指针）看不到值？？

dontium

在调试时不要选择优化。
不优化时，每一句对应一段汇编，如果优化，整个程序可能运行正常，但某一句可能就没有对应的汇编了。

蓝爱青

在调试时不要选择优化。

liutogo

我讲FRDM KL25 OpenSDA Jlink\固件刷过之后，重新使用IAR调试，又好了。这个之后情况又好可以查看寄存器啦

辛昕

话说我从来不用优化，以免发生一些自己掌握不了的事情。
不过公司的项目必须要求O2级别优化。
有一次调试一个问题的时候，我试着关掉优化。

结果也没有多大的优势

不管是CODE还是RO RW ZI数值上都没啥差别，不大于一到两个百分点的变化。

不知道你们使用优化的效果如何？