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【TI首届低功耗设计大赛】微型LCR测试仪-硬件篇之五
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本篇是微型LCR测试仪硬件篇的第五部分,主要讲测量电路与功能实现。
下面是电路框图
其实条理非常清楚,需要采集电压和电流两个信号,按照不同的档位进行放大后送入ADC进行采集。
最上面一部分是I-V转换,也就是平时所讲的电流转换器或者电流放大器,利用运放的虚短,在LC端建立虚拟地,通过运放的负反馈在量程电阻上重建等比例于电流的电压信号,这一部分是设计的重点也是难点,负反馈的稳定性和这一级的噪音水平将直接制约LCR的性能,一般在这一级选用的运放要求Ib较小,合适的带宽和极低的噪音,且要有较大的相位裕度,并分别在每一个量程电阻进行相位补偿,闹不好震荡了就不好玩了,并且在PCB布线上使用如等电位屏蔽等方式,降低漏电,合理的地平面铺设可以有效的降低噪音。例如这次的微型LCR设计,实体量程电阻最大只有10kohm,在测量几十Mohm信号时,电流信号幅度甚至只有uV级,后面将会有几百倍的增益,如果噪音不能得到有效控制,将和有效信号一起得到放大,测试效果可想而知。
中间一部分是主测量电路,电压和电流信号分别通过各自的差分放大器得到有效信号,预放大器是由类似仪表放大器的结构组成,负责在同一档位内,电流和电压放大倍数差异较大时,进行第一级放大,以降低第二级PGA的放大倍数,提高系统稳定性。PGA是一片高精度可编程增益放大器,不需要外置电阻,可以得到较好的共模抑制比。通过合理的规划档位和PGA,可以使各档位取得合适的电压范围,最大限度得利用ADC的测试范围。其实在表的设计之初,430的资料看得少了,对于这样采集关于虚地点对称的正弦信号,应该用MSP430 ADC的差分方式的......这次用的是单端方式,专门搞了一个测量虚地点的ADC通道,然后用CPU减掉虚地值,得到正负对称的测量值.....再后面是一个二阶的滤波器和推动ADC的缓冲器。当然,滤波器的设计可不是三言两语说的完的,这里一般只需注意带宽选取,保证信号在平坦的通带内即可,板子上用的是0603的封装,要求滤波电容必须为NPO,这样可选的电容范围很窄,一般要用稍大些的电阻配合小的电容,但小的电容又要注意布PCB的分布参数对电容值的影响,总之,是个纠结的问题,必须实际调试
最后一个就很简单啦,0.5VCC,虚地点。
画PCB的时候,这里并没有严格的区分数字地与模拟地,两者公用一个大的地平面,重要的信号线走线时,注意所经过路径一个不要靠近高频率的线路,在一个要保证这条线下方是完整的地平面,如果有铺地,尽量使铺地能够将这条线无中断的包围起来,或者,在这条线周围画一圈地线。曾经见安捷伦用过一种挺极致的办法,线路走在内层,这一层相邻两层全部铺地,然后在这条线两边栅栏一样打了n多过孔,即在板子上形成了一种类似屏蔽线的效果,注意过孔间隔和信号线最高频率对应波长的关系。总之,“地”很重要,尤其对于这种既有频率,信号幅值又特别特别小的电路。
下图是反相二阶低通滤波器的计算公式,过程就不一步步写了,结论可以直接使用,给大家参考
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