GPIO开漏输出模式读取输入数据寄存器是否可取

yurl09mail

GPIO开漏输出模式读取输入数据寄存器是否可取 [复制链接]

今晚对STM32的GPIO相关知识做了个了解，遇到了一个问题，自己的理解和文档里面叙述的刚好相反，绕不出来，特来此地求赐教。

先贴出下面两段文字：（图片分别是GPIO配置为通用输入模式和输出模式的结构图，也是STM32参考手册的P107和P108）

当IO配置为输入模式时：

1、输出缓存器被禁止；

2、斯密特触发器输入被激活；

3、根据输入配置位，选择上拉还是下拉（都是弱的）；

4、出现在IO脚上的数据在每个APB2时钟采样到输入数据寄存器中；

5、对输入数据寄存器的读访问可以得到IO的状态；

当IO配置为输出模式：  

1、输出缓存器被激活；

1.1、开漏模式：输出0 N-MOS激活，输出1将端口置高阻态(P-MOS从未激活过)；

1.2、推挽模式：输出0 N-MOS激活，输出1 P-MOS激活；

2、斯密特触发输入被激活；

3、弱上下拉被禁止；

4、出现在IO端口上的数据在每个APB2时钟采样到输入数据寄存器；

5、在开漏模式下，对输入数据寄存器的访问可以得到IO口的状态；

6、在推挽模式下，对输出数据寄存器的读访问可以得到最后一次写的值；
不解之处：就是输出模式下的第5和第6点，上面的文字是STM32手册上的原话，
我理解正好和这个相反。在开漏模式下，输出寄存器输出“1”会将端口高阻（前提是端口没有上下拉电阻）
，然后在此模式下每个APB2时钟下被采样到输入数据寄存器就会出现不定值（1或者0），因为端口有可能是高阻态，
所以我觉得输出开漏模式下去读取输入数据寄存器是不可取的。相反在推挽式的输出模式，端口上的电平是确定的，
因此采样进输入数据寄存器的数据就是可靠的。既然这样文档中的5和6点不是反了么，权威的文档是不容置疑的，不知道我哪里理解错了
还望大虾指点，独孤学STM32有点小痛苦，期待热心人士指点

[ 本帖最后由 yurl09mail 于 2012-11-5 00:08 编辑 ]

yurl09mail

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ALIENTEK STM32交流高群17
最后一封信(975553987) 0:10:51
我感觉没有问题啊！正式因为开漏模式，输出高阻态，所以IO口状态由相连接的外部设备决定，读取输入寄存器，就是IO口状态的
Ψ=Σ2πω<rongliang.yu@foxmail.com> 0:17:19
嗯 你这么说也对
Ψ=Σ2πω<rongliang.yu@foxmail.com> 0:17:52
但是 若果接的外设 是输入，一般芯片的输入不都是高阻态的么？

yurl09mail

百度到的答案：
89C51单片机的P0~P3口不是标准意义的双向口 ，他只是准双向口
你可以对照着P0口的结构图看这段话，向端口写1，就是向锁存器写1，
也就是让其口输出FF，为什么，是这样的，给锁存器写1，那么锁存器
的反向端就输出0，那么和它相接的MOS管也就在截止状态，也就是呈高
阻态，这样P0口上数据就会从读引脚的三态缓冲器上正确的输入，如果
不写1，那么锁存器上次锁存的可能为0，那么反向端有可能出现1，这样
和反向端相接的MOS管就倒通，也就是直接拉到地，那么不管你P0口上输
入什么信号都会拉成低电平，输入就错了双向口与准双向口的区别主要是：准双向口I/O口操作时做数据输入时需要对其置1,否则若前一位为低电平，后一位输入的电平为高则MOS管拉不起来导致出错。而双向口则不需要做此动作，因为双向口有悬浮态。准双向口只能有效的读取0，而对1则是采用读取非零的方式，就是读入的时候要先向接口上写1，然后再读。真正的双向口正如其名，就是真正的双向io不需要任何预操作可直接读入读出

李小川希比

楼主的帖子帮了大忙了，哈哈哈

刺客儿592

yurl09mail 发表于 2012-11-5 00:16 在群里得到热心人士的回复，在此 表示感谢 ALIENTEK STM32交流高群17 最后一封信(975553987) 0:10 ...

谢谢，特意注册账号来回复，感谢，虽然你看不见