关于TetraMAX的测试覆盖率的问题

eeleader-mcu

关于TetraMAX的测试覆盖率的问题 [复制链接]

用run atpg -all命令以后覆盖率达到95%，为什么多次连续使用run atpg -all，覆盖率可以逐步提升，甚至达到99%？？？各位使用过tetraMAX的有没遇到过类似的问题？？？

eeleader

TetraMAX使用注意事项

1.在*.spf文件中的扫描状态的初始化过程，即是使系统进入到扫描测试状态的JTAG信号输入流程必须放在“test_setup”过程中，否则生成的测试激励在测试中可能会产生无法匹配错误，从而导致扫描过程出错。
2.TetraMAX中的GSV分析工具非常有用。使用GSV可以查看激励运行的各种信息，包括扫描链信息、扫描激励串行移位时load_unload、shift、capture各过程的状态信息值。
3.对生成的测试激励的评价主要是故障覆盖率指标。如果故障覆盖率很低的话，可以通过增加测试激励数、去掉不需要测试的电路模块等方法增加覆盖率。

TetraMAX介绍

TetraMAX是一个高速、高性能的自动测试激励产生工具（ATPG automatic test patterngeneration），它能产生最大测试覆盖的测试激励，同时使用最少的测试向量，可以应用了范围广泛的设计类型和设计流图，也适用于百万门级设计。这是synopsys公司的测试工具，它可以和很多EDA工具一起来完成测试工作。

1.      TetraMAX具有以下几个主要的ATPG能力：

能够读入以verilog、VHDL和EDIF格式的设计网表和STIL格式的测试协议信息；
能够生成各种标准和非标准的测试激励文件：WGL、STIL、VHDL、FujitsuTDL、TITDL91、ToshibaTSTL2；
提供ATPG模式的选择：Basic-scan ATPG、Fast-sequential ATPG、full-sequential ATPG；
支持以下的design-for-test（DFT）类型：
ü        Various scan flip-flop types (multiplexed flip-flop,master, slave,transparent latch, and so on)；

ü        Internal, nondecoded three-state buses

ü        Bus keepers

ü        RAM and ROM models

ü        Proprietary and standard test controllers (such as IEEE1149.1-compliant boundary scan)

产生和验证ATPG激励，避免bus contention和float conditions；
提供交互式的分析和调试工具GSV（graphicalschematic viewer）；
提供连接verilog和VHDL仿真器；
提供一个整合的故障仿真器支持功能激励的故障仿真；
能够运行direct automatedtestequipment(ATE)诊断，允许你快速定位设计中的故障位置产生的测试错误；
2.      TetraMAX的测试激励产生支持五种类型的故障模式：

Stuck-at faults:是测试激励产生的标准模式；
IDDQ faults：
Transition delay faults：
Path delay faults：
Bridging faults：
3.      TetraMAX可以兼容大量的design-for-test工具

   TetraMAX可以兼容大量的design-for-test工具象DFT compiler。使用了DFT compiler和TetraMAXATPG的设计流程简便并且结果有质量保证。
ATPG脚本范例

这是本人参与的一款CPU流片测试时所写的TetraMAX生成测试激励的教本，仅共参考，呵呵！
read netlist smic/lib/*.v
read netlist map/netlist.v
set build -black_box r128x21
set build -black_box r128x22
set build -black_box r256x128_1
set build -black_box dualram128
set build -black_boxS018PLLGS_500 
run build_model ppc_top_PAD
 
 
add pi constraint 1 PAD_rst_n
add pi constraint 1 PAD_trst_n
add pi constraint 0 PAD_tms
//add pi constraint 0 PAD_tck
 
set drc map/750.spf
run drc
report rules -fail
report nonscan cells -summary
report bus -summary
report feedback paths -summary
set atpg -abort 50 -pat 1500 -mergehigh
 
//add nofaults here for enhance faultsconverage
add faults -all
 
run atpg -auto
//run atpg basic_scan_only
//run atpg fast_sequential_only
//run atpg full_sequential_only
report summaries
analyze faults -class an
report summaries
report faults -level 5 64 -class au -collapse -verbose
 
write patterns ./dft/pattern_dft.v -formatVERILOG_Single_file -serial -replace
write patterns ./dft/pattern_dft.wgl-format WGL -serial -replace
ATPG流程分析(一)

1.读入网表文件
   可以使用图形界面设置，或者是命令行设置，具体设置参数见帮助文档。网表文件类型可以是标准ASCII格式或是GZIP（一般UNIX的压缩格式）， TetraMAX在读文件前自动检测压缩文件并解压缩。设计中如果有多个文件，可以多次使用readnetlist命令依次读入文件，同样可以使用通配符（如：./sim/*.v）来代替多个文件，如：BUILD>read netlist/proj1234/shared_verilog/*.v–noabort。当网表文件已经读入了，要想重新读入网表文件，需要使用命令 Readnetlist –delete或者Read netlist filename–delete先清除已有的文件。
 
2.构造ATPG模式
   使设计中的各个部分成为TetraMAX过程的一部分，所作工作是删除层次，把它们放入TetraMAX可以使用的内存映象中。同样可以使用图形界面或是命令行runbuild_model。
 
3.执行设计规则检查
   这是最重要的一步。DRC(Design RuleChecking)检查包括：
扫描链输入输出是否逻辑连接
是否时钟和异步set/reset针与扫描链翻转的连接由唯一的输入端口控制
是否当从正常模式切换到扫描变换模式时，时钟/set/reset是off
   TetraMAX完成这些DRC检查，你应该提供以下信息：时钟端口，扫描链以及其他控制信息，这些都在STILtest protocol file（.SPF）中给出.这个文件由DFTCompiler产生，也可以手动产生这个文件。
ATPG流程分析(二)

4.开始测试DRC
使用命令run drcfilename运行DRC测试。

1)      Review DRC结果

2)      在GSV中显示违背规则

在GSV中可以直观的看到违背的规则（GSV grahpical schematicviewer）。

3)      测试设计规则目录

测试设计规则被分成了10个类别分别为

B (Build rules)
C (Clock rules)
L (LBIST rules)
N (Netlistrules)
P (Path Delayrules)
S (Scan Chainrules)
T (Testerrules)
V (Vectorrules)
X (X-staterules)
Z (Tristaterules)
在线帮助中对每类都有详细的介绍，详见Contents 中的 Error and WarningMessages

TetraMAX提供命令可改变设计规则严重级别(severity)

每个设计规则都有四个严重级别：Ignore、Warning、Error、Fatal。可以使用命令set rules来改变级别。也可以使用命令reprotrules决定规则级别的设定以及已经发生的违反的规则数目。例如：set rules B5 warning

4)      DRC执行的详细过程

在执行DRC过程中，TetraMAX做了以下工作：
读.SPF文件收集信息，检查语法和连接（consistency）故障；
完成总线和线网逻辑的连接能力检查；（Z rules）
在SPF中模拟测试过程，看某些情况是否满足要求；
根据定义的测试过程的方向模拟每条扫描链，确保扫描路径对每条扫描链规则来说都是可操作和可靠的。（S rules）
分析所有的时钟和定时设备是否满足ATPG规则。（C rules）
分析所有的不需要扫描的设备；
ATPG流程分析(三)

5.ATPG准备
初始化故障列表，选择pattern source. choosesettings for bus contention checking, and specify the patterngeneration effort.

1）使用命令setfaults设置故障列表

例如：

TEST> add faults –all表示包括所有可能的故障。

TEST> read faultsfault_list_filename表示使用名字为fault_list_filename的故障列表

也可以将一些指定的blocks, instances, gates, orpins排除到故障列表外，使用下面的方法：

TEST> addnofault /sub_block_A/adder

TEST> addnofault /io/demux/alu

TEST> addfaults -all

表示先去除模块adder和alu，再添加故障列表。

2） 删除故障列表使用命令removefaults，例如：

TEST> addfaults -all

TEST>remove faults /sub_block_A/adder

TEST>remove faults /io/demux/alu

指定ATPG设置，例如：DRC> set atpg-patterns 400 -abort_limit 5

6运行ATPG
使用命令run atpg –random，首先是Basic-ScanATPG，然后是Fast-SequentialATPG，和Full-SequentialATPG。Run atpg–auto_compression

ü        Basic-Scan ATPG：

有效的，仅适用于组合电路的全扫描模式。为了得到高的测试覆盖率需要使用该测试模式。

ü        Fast-Sequential ATPG

ü        Full-Sequential ATPG

ATPG流程分析(四)

7.ATPG激励压缩
在测试激励合并的基础上还可以进行测试激励的压缩，使用如下命令：

TEST> run pattern_compress 99 2-noverbose
8.ATPG激励压缩
在测试激励合并的基础上还可以进行测试激励的压缩，使用如下命令：

TEST> run pattern_compress 99 2-noverbose
9.保存故障列表
TetraMAX包含了关于设计中潜在的faults的列表，可以使用命令report faults或者write faults。Report faults表示查看故障列表，而write faults表示将故障列表写入文件。

例如：

TEST> write faults faults.AU -class au–replace。

下面的命令写所有的故障列表：

TEST> write faults filename -all–replace；

下面的命令只写undetectable blocked (UB) and undetectable redundant(UR)故障类型：

TEST> write faults filename -class UB -class UR-replace；
10.使用脚本文件
   写脚本文件*.tcl完成ATPG操作类似于WINDOWS中的批处理文件。在我们的TETRAMAX环境中采用了脚本运行的方式，所有的上面提到的ATPG流程都写到一个脚本文件中（tmax.tcl）。