【STM32H7S78-DK测评】第4篇 FLASH ECC学习

常见泽1

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　  ECC(ErrorCorrect-ionCode)校验是一种内存纠错原理，它是现在比较先进的内存错误检查和更正的手段。ECC内存即纠错内存，简单的说，其具有发现错误，纠正错误的功能。首个 ECC 由数学家 Richard Hamming 发明。第一个 Hamming 码使用 7 位存储 4 位信息，冗余位用于纠正和检测错误。

“不同于NOR Flash内部结构，NAND Flash存储单元(cell)是串行组织的，当读取一个单元的时候，读出放大器（sense amplifier）所检测到信号强度会被这种串行存储结构削弱，这也难免降低了所读信号的准确性。因此如何保证NAND Flash数据的可靠性成了一个问题。ECC作为一种解决手段，被广泛使用”

 

 

为什么现在高端一些的或者汽车MCU都开始带FLASH ECC呢？

在 Flash 存储器中，数据会随时间衰减，尤其是在高温下。存储温度会对 Flash 存储器数据产生影响，但循环（编程）温度的影响更大。 Flash 存储器只能对每个存储字进行一定量的重写，这就需要在数据存储的情况下实现平均抹写存储区块。这两种类型的故障（一位错误和两位错误）均不可避免，但正确使用 ECC 可以防止数据丢失。而且随着芯片的制造工艺水平越高，带电粒子产生的位翻转就越多，此时的ECC是必须要有的，一般可以纠正1-2个bit

 

来看下H7的FLASH ECC介绍吧

 

 

 

 

 

 

 

 

 

使能一下错误中断吧

void HAL_FLASHEx_EnableEccDetectionInterrupt(void)

{

  __HAL_FLASH_ENABLE_IT(FLASH_IT_DBECCERR);

}

进入错误中断后设置标志

 

 

 

进入回调函数