【AEK-POW-BMS63EN】测评四：针对AEK-POW-BMS63EN开发板信息安全测试结果

DarthNihilus

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前言

本次测试采用了非侵入式测试方式，非侵入式测试主要包括电磁兼容性分析、旁路攻击检测及功耗分析等测试方法。非侵入式测试旨在不改变被测设备硬件或软件结构的前提下，通过外部观测和测量来评估其安全性。这种方法特别适用于验证设备在实际工作环境中的抗干扰能力和信息防护能力。

 

测试结果

电磁兼容性测试：电磁兼容性测试测试表明，AEK-POW-BMS63EN开发板上L9963E芯片在对外界电磁干扰时表现出非常强的抵抗力。AEK-POW-BMS63EN开发板上L9963E芯片经受住了从低频到高频各种强度的电磁干扰考验，即使是在接近其设计极限的高强度射频干扰环境下，该芯片依然能够准确无误地执行预定操作，确保了数据传输的完整性和准确性。

旁路攻击检测：利用侧信道分析技术进行测试，特别是借助功耗曲线进行分析，并尝试获取AEK-POW-BMS63EN开发板上L9963E芯片内部操作信息。结果显示，AEK-POW-BMS63EN开发板上L9963E芯片具有较为良好的物理层防护机制和特性，能够有效抵御此类攻击。在其他多次重复实验中，都未能直接从功耗模式中提取到任何有价值的敏感数据信息及操作信息。这一结果表明了其在防止信息泄露方面同样具备较高水平的安全设计水平。

功耗测试：通过功耗模式分析显示，AEK-POW-BMS63EN开发板上L9963E芯片在不同工作状态下的能耗表现基本稳定且较为符合预期。这一结果表明AEK-POW-BMS63EN开发板上L9963E芯片这一芯片有助于延长整个BMS系统的使用寿命并减少能源浪费。

 

尾声

综上所述，本次针对AEK-POW-BMS63EN开发板上L9963E芯片的信息安全测试，通过非侵入式测试手段进行的信息安全评估结果显示为，此款芯片在电磁兼容性、抵御旁路攻击以及功耗管理等方面均展现出较为优异性能。它不仅能在复杂的外部环境中保持稳定运行，而且拥有较强的数据保护能力，可以为用户提供可靠的安全保障。

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okhxyyo

大赞！！！很少看到有网友做这方面的测评。 要是有图有视频之类的就更好了。这样子看不出来楼主是怎么测试的呀

DarthNihilus

okhxyyo 发表于 2025-2-12 00:14 大赞！！！很少看到有网友做这方面的测评。 要是有图有视频之类的就更好了。这样子看不出来楼主是怎么测试 ...

最近在外地跑，年前做出来的数据，当时着急没截图拍照，等过段时间回来补充上哈~等我~

okhxyyo

DarthNihilus 发表于 2025-2-12 13:22 最近在外地跑，年前做出来的数据，当时着急没截图拍照，等过段时间回来补充上哈~等我~

嗯嗯嗯！期待