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【11月22日|上海】高速互连创新技术研讨会邀您参加! [复制链接]

会议时间:2024年11月22日 13:30-17:30

会议地点:上海博雅酒店,一楼碧波厅AB

 

活动介绍

 

随着AI模型规模的不断增长,模型内互连将超过百万亿。AI/ML推动的计算互连带宽需求正在加速向下一代PCIe(PCIe Gen 6)的转变。面对爆发式的算力增长,在scale-out方向上,想象空间从单芯片演进转向了算力互联,如服务器间、机柜内、网络架构层面、分布式集群等互连方式。

 

本次会议将会将围绕下一代光电互连技术发展趋势及测试挑战等话题展开,欢迎大家报名参会!

 

>>>立即注册<<<

 

由于席位有限,会议已开启审核机制,

请使用公司邮箱注册。

 

活动日程

 

 

 

会议话题摘要

 

PCIe 6.0技术更新及协议层解决方案

PCIe 6.0 spec更新

PCIe 6.0 测试方案更新

PCIe 6.0 协议层方案介绍

 

PCIe 6.0 PLL测试解决方案

Phase-Locked Loop (PLL) BW and Peaking Measurements

PCIe TX PLL Specifications

Clock Recovery PLL Measurement

DDC-Based PLL Measurement Solutions

 

PCIe 7.0光连接技术挑战

PCIe 7.0 进展更新

PCIe 7.0 光传输技术挑战

PCIe 7.0 Pathfinding test solution

 

人工智能浪潮下,光电互连发展及测试挑战

56G/112G/224G光口互连技术发展趋势

InfiniBand(NDR/XDR)光电标准解读

光电互连技术测试挑战与解决方案

演讲嘉宾

 

 

是德科技技术专家,于2006年加入安捷伦科技,主要从事高速数字技术测试测量方案的开发和应用,负责示波器、误码仪、逻辑及协议分析仪等产品的技术咨询和支持工作。

 

 

 

于2016年加入是德科技,专注于高速数字测试及相关应用,拥有10年以上的研发和测试经验;目前主要负责华东地区示波器、误码仪、逻辑协议分析仪等产品及应用的技术支持。毕业于郑州大学,拥有电气工程及自动化硕士学位。 

 

 

服务于华东区域,专注于提供售前和售后的技术支持。拥有超过十年的测试与测量领域工作经验,在高速串行信号完整性、消费电子产品测试及数通测试等多个领域内经验丰富。除了信号完整性领域,还对电源完整性和半导体测试测量行业拥有丰富的经验,为客户提供覆盖从基础电路测试到复杂系统级验证的广泛技术领域支持,帮助客户应对多变的测试挑战,确保产品在性能和可靠性方面达到行业最高标准。

 

样机预览

 

 

 

会议礼品

 

 

 

关于是德科技

 

是德科技(NYSE:KEYS)启迪并赋能创新者,助力他们将改变世界的技术带入生活。作为一家标准普尔 500 指数公司,我们提供先进的设计、仿真和测试解决方案,旨在帮助工程师在整个产品生命周期中更快地完成开发和部署,同时控制好风险。我们的客户遍及全球通信、工业自动化、航空航天与国防、汽车、半导体和通用电子等市场。我们与客户携手,加速创新,创造一个安全互联的世界。了解更多信息,请访问是德科技官网 www.keysight.com.cn

 

 

 

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