泰克 4200A-SCS 带您走进半导体材料测试世界 下载赢好礼！

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泰克 4200A-SCS 带您走进半导体材料测试世界 下载赢好礼！ 活动开始啦~

 

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活动时间: 即日起——2023年3月31日

如何参与: 点击活动页面内“ 我要参与”按钮，填写并提交问卷信息，任选页面中5个您感兴趣的资料下载学习即可。

活动规则：

1. 活动结束后，我们将从认真填写问卷的电子相关网友中抽取30名网友送出下方礼品；

2. 马甲、用户资料不详等违规行为，视为无效参与。

活动奖品：

 

 

更多内容介绍

4200A-SCS 参数分析仪

使用 4200A-SCS参数分析仪（参数测试仪）加快各类材料、半导体器件和先进工艺的开发，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是业内性能领先电学特性参数分析仪，提供同步电流电压曲线测试 (I-V曲线测试)、电容-电压曲线测试 (C-V曲线测试) 和超快脉冲 I-V曲线测量。

 

方案介绍

功率半导体器件处于现代电力电子变换器的核心地位，它对装置的可靠性、成本和性能起着十分重要的作用。功率半导体器件根据集成程度可分为功率IC和功率半导体分立器件。功率IC是将功率分立器件与驱动、保护等电路集成在一个半导体晶片上；功率分立器件可分为二极管、晶体管、晶闸管三大类别，晶体管中MOSFET、IGBT、BJT应用广泛。

ONE PAGE测试方案

▪  二维/石墨烯材料电阻率测试方案

▪  泰克MOSFET测试方案简介

▪  泰克功率器件IGBT测试方案简介

▪  泰克宽禁带材料测试简介

▪  泰克电输运/物性表征/量子材料/超导材料测试方案

▪  纳米材料及纳米电子器件测试综述

▪  泰克类脑计算神经元网络芯片阵列测试方案

▪  泰克微机电系统MEMS测试简介

▪  泰克霍尔测试简介

 

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