关于GD32F303的内部带隙基准的问题

吓于侠义

关于GD32F303的内部带隙基准的问题 [复制链接]

GD32F303的ADC0通道17连接到一个内部的带隙基准，手册里面只是稍微提了一下，没有具体参数，与使用方法。

我试着配置成规则扫描，DMA触发，用了其他3通道+通道17内部参考。ADC时钟30M，采样周期 28.5(+12.5)。

然后发现一个神奇的现象，就是其他通道输入值会把这个内部参考采样到的值改变。

平时这个值测出来是1.2V，温飘是真的小，肯定小于80ppm，实测效果比我外接的一个80ppm的电压基准好。用来反推外部参考电压3.3V还是挺好用的。

就是其他ADC通道输入电压值，就会改变这个值，会减小到1V以下。

后来不是官方有个例程，里面是把它和内部温度一起配置的，配置成注入组的，采样周期是239.5(+12.5)。

我试着将它的采样周期单独改成239.5(+12.5)，好像就好了，也不会受到影响。

71.5(+12.5)，55.5(+12.5)也行。

41.5(+12.5)开始就不行了，就会受到其他通道的影响。

55.5(+12.5)/30 = 2.2667us。

(41.5 + 12.5) / 30 = 1.8us。

随后，我把主频从120M降到100M。ADC频率即变成25M。

(41.5 + 12.5) / 25 = 2.16us。

这时候也不会受到影响。

手册里面倒是有提到内部温度采样时间不要低于17.1us。

所以我想问问，内部基准是不是也有这种说法。

 

Jacktang

手册里面倒是有提到内部温度采样时间不要低于17.1us，应该是厂家做过验证的吧

castle66

数据手册有说明，内部参考电压采样时间也是不要低于17.1us（见附图）

 

另外，https://www.gd32mcu.com/download/down/document_id/375/path_type/2

上面这个链接是GD32官网的一个ADC应用文档，里面有说ADC采样精度的各种影响因素，可以看一下2.5和2.6章节。目前这个问题原因感觉就是内部存在阻抗，所以对ADC采样周期有一定要求。

吓于侠义

castle66 发表于 2023-2-20 15:50 数据手册有说明，内部参考电压采样时间也是不要低于17.1us（见附图）   另外，https://www.gd3 ...

谢谢您，真的是帮上大忙了。