第一次测试用5 毫秒太长, 现在的高端电源芯片内部非常复杂,为了几个目的,用电池时考虑每一毫安的消耗,这包括带负载时的效率, 低负载时的“静态” 功耗。 开关快速又不要过冲,噪音小。。 为了省电和噪音,用了不同的模式。 我的理解, Burst 模式是对开关比较“危险”的模式, 因为这个模式关断了很多控制模块。 其它三种模式内部大部分是开的, 如果我没记错,4-5 年前和一位高端电源芯片设计主管闲聊时(我在测他们的新产品), 问过他怎样用 Burst 模式, 他的建议是, 开关时都不要用Burst 模式, 先用别的模式 开, 关之前先转别的模式。
我有几个建议,看来你是真想把这个问题解决的人, 这是我想多花些力气的原因。
1. 一定不要再用简单开关测这么高档的电路, 单脉冲电路是必须的 (要求按下开关后只有一个漂亮的单脉冲) 简单三级管电路都不是很好, 用个 555 电路可能是选项之一。
2. 如果可能, 关断时关此芯片VIN , EN和VIN 联在一起, 这是厂家多项测试通过的。
3. 此芯片是电平控制 EN, 所以EN 的信号不能在 0.9 -1.1 V间“常时间”,哪怕不是震动都不行, 芯片内部可能反复开关,这个“常时间” 是 ns 级的, 此芯片的开关时间都在100 ns 左右。
4. 一般EN 内部有下拉电阻, 你可取消R13, 用开关断开RA10 作关断 (要试验才知道对不对,最好不忙试。)
5. 如果可能, 把情况反馈给厂家的FAE, 他们有的是测试方法, 他们也不怕烧。
他们应该会有兴趣提出意见。
6. 我想你的第三个测试条件引起的问题是, RC 常数太大, 已经达到 1 mS, 而且电压比前两个高了很多, 降压到1V时, 已经在 2.5 RC 左右, 这段的曲线较平滑, 对此芯片很不好。
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