【新思科技IP资源】AI+ML,让芯片验证这场持久战提前结束
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在功能验证的过程中,通常60%的时间会用于测试平台的开发和调试,而剩下40%的时间则用于测试平台的搭建和覆盖收敛。如果我们有一种方法能够缩短覆盖收敛的时间,同时又能精准找到所有bug,开发者们的效率将大大提升。
真的有这样的方法吗?
随着芯片设计的规模越来越大,方法也日趋复杂,芯片验证通常将耗费成千上万小时的CPU处理时间,收敛时间也比以前更长,新品上市所面临的时间压力与成本更为严峻。
那么如何在芯片验证过程中实现“左移”,同时加快覆盖收敛呢?
今天,我们将聚焦机器学习技术,讨论它如何帮助开发者更早发现错误(包括极端情况),实现更快的覆盖收敛,缩短功能验证周期。
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