【雅特力开发板 AT32F421 测评】-TEST04 快速ADC测试

Gen_X

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 在前面的FFT试验中，对于AT32F421的ADC采集时钟，为了让测试顺利，选取了10MHz的ADC采集时钟。

ADC的零点误差在±5mv左右，3.3V外部电源采集值误差也在±5mv以内，根据多年的硬件经验，本以为是正常结果，

并很满意。但今天根据手册时钟定义，将ADC时钟提高到了20M（手册上最大28M）。

结果出乎预料：

        零点和3.3v测试竟然在mv级没有误差，误差在小数点后第4位，这完全超出了我的认知。

         后来ADC采用30MHz（超频）测试，大部分采集数据误差同上，但部分数据有随机通讯干扰。

测试总结：

       不一定ADC采集时钟越慢或周期越长就精度越高！

       希望大家注意，最高采用和MCU较为规整的整数采集频率，例如MCU为120M，则时钟可取和12相近的整数倍，

例如 ：3、4、6、8、12、20 MHz等，搭配不同采集周期测试结果，最后测试后采用误差最小且更最稳定的一个时钟，作为ADC时钟。

同时希望高速采集时不要伴同高速通讯、PWM等有较强电磁辐射的操作，以提高采集精度和效率。

否则需要在REF和电源追加高频旁路电容。

火辣西米秀

看来20M的时钟信号就行了，时钟信号太高需要进行EMI的处理，包括电源追加高频旁路电容等比较麻烦

 

Gen_X

是的，20M已经非常不错了，加上1.5的采样周期，很完美了！

Gen_X

火辣西米秀 发表于 2021-5-5 21:02 看来20M的时钟信号就行了，时钟信号太高需要进行EMI的处理，包括电源追加高频旁路电容等比较麻烦   ...

很多单片机都是采用这种方式提高采集精度的.

大部分的ADC看门狗就指的是数字静默方式的ADC，甚至在休眠时做ADC，都是为了提高精度，降低数字电路工作时的特有噪声的，

例如PIC/430/部分STM等都提供这些功能。

也不算什么特殊处理。

freebsder

谢谢分享，期待后续！

火辣西米秀

Gen_X 发表于 2021-5-5 22:03 火辣西米秀 发表于 2021-5-5 21:02 看来20M的时钟信号就行了，时钟信号太高需要进行EMI的处理，包括电源 ...

原来这样，感谢回复

w494143467

谢谢分享，期待后续！