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电容有关ESD测试 [复制链接]

本帖最后由 qwqwqw2088 于 2020-7-22 17:16 编辑

ESD耐性的测试方法耐性

人体和设备所携带的静电向整机及电子元件放电时,由于增加了冲击性的电磁能量,则产品必须具备一定量ESD耐力。

ESD耐性测试方法根据产生静电的模型,分为以下三种:

①HBM

②MM

③CDM

其中,我们为您说明一般较多用作电容器ESD耐性测试方法的①HBM。

①HBM(Human Body Model:人体模型):假设由人体静电放电时的测试

②MM(Machine Model:机械模型):假设由机械静电放电时的测试

③CDM(Charged Device Model:带电设备模型):假设由带电设备静电放电时的测试

HBM的ESD测试规格有AEC-Q200-002和IEC61000-4-2等,HBM模型常熟如下表所示因规格有所不同。

AEC-Q200-002HBM的ESD测试电路及放电电流波形如图1、图2所示。

(i)开关2为断开状态,开关1闭合,施加高压电源,充电用电容器(Cd)存储电量。

(ii)开关1断开,开关2闭合,电对测试对象电容器(Cx)施加Cd存储的电量,进行测试。

※Cx:测试对象电容器 Cd:充电用电容器 Rd:放电用电阻 Rc:保护电阻

图1.HBM的ESD测试电路

 

图2.放电电流波形

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根据AEC-Q200-002,HBM的ESD测试流程如图3所示,级分类如表1所示。根据图3的流程进行测试,耐电压的分级如表1所示进行分类。

图3.HBM的ESD测试流程

表1.HBM的ESD测试流程

DC:直流接触放电 AD:空气放电

电容器静电容量与ESD耐性的关系

测试对象电容器的静电容量对电容器两端产生的电压有影响。

图4.HBM的ESD测试电路

 
 
 

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测试对象电容器的静电容量(Cx)和两端产生的电压(Vx)有如下关系。

电源电压(Vd)及充电用电容器的静电容量(Cd)恒定时,测试对象电容器的静电容量(Cx)越大,测试对象电容器两端产生的电压(Vx)越小。

因此一般的测试对象电容器静电容量越大,ESD耐性有变大的趋势。

实际上,如电介质的种类及厚度之类的设计上的差异,耐电压的性能范围也有不同,并非所有的都如上述的趋势一样。

(参考数据)多层陶瓷电容器(GCM系列)的ESD耐性

展示了多层陶瓷电容器(GCM系列)的ESD耐性参考数据

图5. 高介电常数型电容器的ESD测试结果(Vd=25kV为测量范围)

 
 
 

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