面向5G的射频元器件测试技术研讨会-邀您参加！

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面向5G的射频元器件测试技术研讨会-邀您参加！ [复制链接]

罗德与施瓦茨公司（以下简称R&S）诚邀您参加 “2019面向5G的射频元器件测试技术研讨会” 。

 

参会时间及地点：

 

10月14日    北京 

10月16日    上海

10月18日    深圳

 

参会将有机会了解到：

• 先进相控阵天线测试技术
• 最新相位噪声和抖动测试技术
• 利用在片负载牵引技术实现5G毫米波芯片特性测试
• 高级数据转换器集成技术简化宽带多天线应用
• 5G毫米波OTA测试 - 从RFIC到终端
• 高速无源通道建模及校准 - 5G时代对无源通道的挑战
• ……

在本次研讨会上，来自R&S公司德国和本地技术专家以及合作伙伴将结合最新的5G NR新技术深入讲解射频元器件测试技术，测试挑战以及解决方案。

 

>>>点此报名参会

 

报名成功后，您将享受到的服务包括：

▍预留席位

▍资料电子版下载

▍现场工程师咨询服务

▍精美礼品一份

▍自助午餐和茶点

会议结束后，参会客户扫码完成调查问卷，还会得到精美礼品作为答谢。