为何“多端口测试，是时候放弃开关矩阵”，尽在Keysight白皮书~ 限时好礼等你来

EEWORLD社区

为何“多端口测试，是时候放弃开关矩阵”，尽在Keysight白皮书~ 限时好礼等你来 [复制链接]

基于开关的多端口测试解决方案需要进行大量的设置和校准，但可能仍无法满足现代多端口器件表征的测量性能要求。

想要了解在表征高度集成的现代化多端口器件时，基于开关的多端口测试解决方案为什么可能无法满足您的需求，而工程师们纷纷转向专为多端口表征而设计的矢量网络分析仪？尽在Keysight白皮书内，白皮书涵盖了使用下述装置时的各种优缺点：

 

• 简单的开关测试装置
• 全交叉开关测试装置
• PXI 多端口矢量网络分析仪

 

即日起至8月5日，>>点此填表下载下方白皮书,即有机会获得精美礼品一份（共32份）。

 活动结束后随机抽取32名网友派发礼品。信息不完整、采用作弊、小号参与活动等网友，不计入随机抽奖名单内。