当石英晶振在PCB板中出现不起振时的处理方法

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一、晶振晶体不起作用或频率变化,因为在PCB板上进行热测试.

1.卸下晶体并测试其频率和电阻,以确定石英晶振是否振荡并使用热测试机符合规格.您也可以将其发送给晶振晶体供应商进行测试.（热测试点的间隔应至少为10/1测试点）

2.如果其电阻和频率超出工作温度范围内的规格,请将晶振晶体送至制造商进行质量分析和进一步改进.

3.在晶振晶体通过热测试的情况下,请检查振荡电路和其他元件的特性,如外部电容的温度特性,芯片电路的温度特性等.

二、安装在PCB板上时,石英晶体不起振.

1.请使用示波器或频率计来测量晶体两端的信号.如果频率和负载电容符合您的规格且晶振晶体通过DLD测试,我们将需要进行等效电路测试.当信号输出信号但波形幅度较小时,请使用示波器或频率计测量来自晶振晶体两端的信号.如果频率远高于目标频率，请采用CL较低的晶体，反之亦然。

2.请卸下晶体并测试其频率和负载电容,以确定它们是否会使用专业测试机器振动并符合您的规格.您也可以将其发送给供应商,让他们为您进行测试.

3.如果发生以下任何一种情况,例如晶振不振动,其负载电容不符合您的规格,或者当前频率与您的目标频率之间存在巨大差距,请将晶体发送给您供应商进行质量分析.

4.如果频率和负载电容符合您的规格且石英晶振晶体通过DLD测试,我们将需要进行等效电路测试.
如果晶体的参数是正常的，但它在振荡电路中不能稳定工作，我们将不得不查明IC的电阻值是否太低而无法驱动电路。

5.如果晶体晶振未通过DLD测试,请将其发送给您的供应商进行质量分析以进一步改进.

三、当晶振晶体安装在PCB板上时,晶振频率随时间的分布过宽或频率受到杂散电容的极大影响.

该曲线表示电容变化与频率变化的变化（频率可变性）

除外部电路调整外,晶振参数的特性也会影响频率牵引范围。其参考参数为微调灵敏度（TS）,C0/C1（r）,C1,C0等。每个参数和频率可拉性之间的关系如：C0',C1a',C0/C1（r）†“,TS'',可拉性→

１．根据上图所示的石英晶体拉伸能力曲线,电容越小,对频率变化的影响越大.如果频率分布太宽,请按照以下方法：

a．增加电容值Cd和Cg,并采用具有较大负载电容（CL）的晶振晶体.

b．对Cd和Cg使用更复杂的电容（电容变化很小）.

c．使用更复杂的水晶（频率变化很小）.

方法（a）和方法（b）是有效的并且更节省成本.

2.此外,如果由于PCB的杂散电容导致频率分布无法满足规范,则可能需要基于杂散电容源的新布局.