图5和图6是实际应用中的测试波形,从图中我们可以看出:①电容的增加使得开启的时间变长,增加了开通损耗。②电容的增加,使得门极电压的高频震荡减少。同时,由于米勒平台的振荡减小,MOSFET在米勒平台期间的损耗也会相应减小。
延长MOSFET的开通时间可以减小开通时的涌入电流。由于电机负载为感性负载,所以在PWM关断时存在续流现象(见图7中的I2),为了减小续流侧反向恢复电流(Irr)的大小,PWM侧开关管的开通速度不宜过快。由于MOSFET处于饱和区时有公式:Id=K*(Vgs-Vth)2,(K为一常数,由MOSFET的特性决定)。所以在一定的温度和Vds条件下,从MOSFET的门极驱动电压Vgs可以判断MOSFET中的电流大小。图5中Vgs峰值为9.1V,图6中Vgs峰值为6.4V,所以增加电容使得峰值电流减小。Id也可从MOSFET的转移特性图中获得。
由于MOSFET的封装电感和线路的杂散电感的存在,在MOSFET反向恢复电流Irr突然关断时,MOSFET(Q3)上的电压Vds会出现振铃(如图8中CH2所示)。此振铃的出现会导致Vds超过MOSFET的击穿电压从而发生雪崩现象。如果线路中出现振铃,我们可以通过以下方法来减小振铃:
A.设计线路时应考虑线路板布线:①尽量缩短驱动线路与MOSFET之间的线迹长度;②使大电流回路的铜箔走线尽量短且宽,必要时可以在铜箔表面加锡;③合理的走线,使大电流环路的面积最小。
B.如果线路杂散电感已经确定,可以通过减小PWM侧的MOSFET开通速度来减小在续流侧的MOSFET上的Vds振铃,从而能够使MOSFET上的Vds不超过最大耐压值。
C.如果以上两种方法都不能很好地解决问题,我们可以通过在相线上加snubber的方法来抑制线路的振铃。[3]
注意Cdv/dt产生的栅极感应电压。如图7所示:在控制MOSFET Q1的导通开关期间,因为Q1的米勒效应和导通延迟的缘故,满输入电压并不会立刻出现在Q3的漏极上。施加在Q3上的漏极电压会感应出一个通过其栅-漏极间米勒电容Cgd(见图2)进行耦合的电流。该感应电流在Q3的内部栅极电阻Rg和外部栅极电阻的两端产生一个压降。该电压将对Q3栅极上的栅-源极间电容Cgs进行充电。Q3上的感应栅极电压的幅度是dv/dt、Cgd、Cgs和总栅极电阻的一个函数。
感应栅极电压如图8中的CH1所示,其值已达到2.3V。另外,由于源极引线电感的存在,在Q3内的电流迅速减小时,会在Ls的两端感应出一个极性为上负下正的电压,如图9所示,此时加在DIE上的电压Vgs(die)要大于在外部引脚上测量的Vgs电压,所以由于Ls的影响,使得MOSFET有提前导通的可能。如果下管由于感应电压而导通,则会造成上下管穿通,如果MOSFET不能承受此穿通电流,MOSFET就会损坏。
防止产生Cdv/dt感应导通的方法:
A.选择具有较高门限电压的MOSFET。
B.选择具有较小米勒电容Cgd和较小Cgd/Cgs的MOSFET。
C.使上桥(Q1)的开启速度变慢,从而减小关断时的dv/dt和di/dt,使感应电压Cdv/dt和Lsdi/dt减小。
D.增加Q3的栅极电容Cgs,从而减小感应电压。
保留Cdv/dt感应导通的好处
Cdv/dt感应导通有一个好处:它能够减小续流侧MOSFET上的电压尖峰和Vds振铃(V = L×dIrr/dt; L:环路寄生电感), 同时也减小了系统的EMI干扰。因此,在设计MOSFET驱动线路时,我们应根据实际情况来权衡驱动参数的调整,即究竟是阻止Cdv/dt感应导通以求最大限度地提升电路效率和可靠性还是采用Cdv/dt感应导通来抑制过多的寄生振铃。
4 结论
4.1 在开始设计之前,应该全面了解所选MOSFET的参数,判断MOSFET是否能满足产品要求,包括MOSFET的耐压(Vgs和Vds)、最大电流等参数,确保当工作条件最恶劣时这些参数不要超过MOSFET的最大额定值。
4.2 在线路设计阶段,必须进行热设计,以确保MOSFET工作在安全工作区。应特别注意线路板的布线,尽量减小线路杂散电感。
4.3 在不影响可靠性的情况下尽量缩短开关时间,将开关损耗降到最低。有时为了进一步提高效率,降低温升,还可采用同步整流。