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至上芯片

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IC设计流程 [复制链接]

1.IC Specification 订定规格:
订定IC的规格,工作电压、电流,采用的制程等,并于架构设计时就必须考虑其未来测试问题。
2.IC Design IC
设计:
依据所订的的规格来设计,于逻辑设计与线路计设时,须考虑可测试性设计及实际产生其测试图样,供IC制作完成后之测试用。
3.IC Layout IC
布局:
将设计完成的电路,依据制造IC所需光罩的设计规则,完成实体布局。
4.Wafer Process
晶圆制造:
光罩完成后,进入晶圆厂制造。
5.Circuit Probe
电路点测:
利用探针点测芯片上的电路。
6.Package
封装:
依需求决定IC的包装,PIN脚数、封装材枓皆有不同。
7.Final Test
成品测试:
进行功能测试并区分等级。
8.Brun-In
预烧测试:
利用高温,加速可*度不佳的IC,提早淘汰。
9.Sampling Test
取样测试:
品管人员,取样抽测,如有不良品由品保工程分析,并追踪制程上缺失。
10.Shipment
出货:
正式上市贩卖
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哎,不是我想要的。。。  详情 回复 发表于 2009-5-6 19:17
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TA的资源

一粒金砂(初级)

沙发
 
不错,有更详细的没?
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TA的资源

一粒金砂(高级)

板凳
 
哎,不是我想要的。。。
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