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【NUCLEO-L452RE测评】在已有测试仪表下的提高精度的测试的方法讨论
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此文纯属讨论——因为原先想搭一电路进行测试,但时间有限,只能抛出讨论,以后有时间再进行测试了。手头有一块51搭建的基于24位ADC的6.5位万用表,6位精度还是可以保证的,因此设计原理见图31的电路进行测试。先忽略所有内阻等因素,直接讨论测试原理:
i1直接从4.5位万用表读出。当K闭合时,i1=i1-ix;两精密电阻的分压由电压表读出,其电流i2=V1/R2;可以得到i1+ix=i2;ix=|i2-i1|;这个ix可以从减少的i1万用表上直接读出。改变芯片工作模式可以的到另一组方程,偷懒采用画曲线的方式可以推出实际i1的大小;不投蓝可以列方程导出公式计算得到。以后的就应该不难了。R1和R2的选择对于测试精度和适用表头有很大影响,并且可以不等值。
以上只是初步设计,应该可行,仅供讨论参考用。不当之处请更正。谢谢。
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