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ST惯性传感器自测试功能(self-test)简述【ST工程师干货文章分享】 [复制链接]

 由于MEMS器件的特点,在PCB设计和生产过程中需要注意避免影响器件性能或损坏器件,因而一般厂商都需要在生产贴片后验证器件的性能。在实现上,很多厂商是通过定义传感器输出域值,从而判断器件是否正常工作。但对于ST的惯性传感器,事实上器件本身已经预置了自测试功能,并且使用这一功能进行验证更加方便和可靠。
自测试功能的原理非常简单,即配置传感器后读取输出数据,随后始能自测试位并再次读取数据。最后计算两次采集数据的差值,如果差值在预定阀值区间内则认为器件正常,反之异常。


在ST传感器的应用手册上可以看到每个sensor的自测试流程图,用户可以参考其完成测试程序,下图为LSM6DS3的测试方法:







图中使用到的阀值参数Min(ST_X/Y/Z)和Max(ST_X/Y/Z),其针对每一款sensor的是不一样的,通常可以在sensor的datasheet上找到对应的阀值,如下图所示:





需要注意的是,如果用户希望改变测试量程(FS),其阀值也会相应变化,用户可以联系ST以获取其他阀值参数。

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芯片的数据手册上一般都不会放自测试流程这么具体的信息,你可以在ST官网上下载AN5272的应用手册,其中第11章有加速度和陀螺仪在不同工作模式下的自测试流程图可以参考。   详情 回复 发表于 2020-3-17 17:44
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以加速度传感器为例这种通过输出域值判断传感器好坏的原理是什么呢?

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是用内部的电路移动芯片内部质量块,使其产生一定位移。用于判断这部分机械机构是否正常。  详情 回复 发表于 2017-3-9 23:03
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一粒金砂(中级)

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littleshrimp 发表于 2017-3-9 14:17
以加速度传感器为例这种通过输出域值判断传感器好坏的原理是什么呢?

是用内部的电路移动芯片内部质量块,使其产生一定位移。用于判断这部分机械机构是否正常。

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这么小的结构还能控制质量块的移动 是用的什么方法  详情 回复 发表于 2017-3-11 20:54
 
 
 

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这么小的结构还能控制质量块的移动
是用的什么方法

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好想是电压造成了MEMS结构的位移,具体不清楚。  详情 回复 发表于 2017-3-12 22:53
 
 
 

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一粒金砂(中级)

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littleshrimp 发表于 2017-3-11 20:54
这么小的结构还能控制质量块的移动
是用的什么方法

好想是电压造成了MEMS结构的位移,具体不清楚。

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压电效应?  详情 回复 发表于 2017-3-12 23:05
 
 
 

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jiezh 发表于 2017-3-12 22:53
好想是电压造成了MEMS结构的位移,具体不清楚。

压电效应?

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应该是,具体不知道叫什么。  详情 回复 发表于 2017-3-13 22:39
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一粒金砂(中级)

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应该是,具体不知道叫什么。
 
 
 

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一粒金砂(初级)

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我用的LSM6DSOX,为啥在文档上没有看到介绍自测试的流程嘞

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芯片的数据手册上一般都不会放自测试流程这么具体的信息,你可以在ST官网上下载AN5272的应用手册,其中第11章有加速度和陀螺仪在不同工作模式下的自测试流程图可以参考。  详情 回复 发表于 2020-3-17 17:44
 
 
 

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一粒金砂(中级)

9
 
挣钱娶媳妇 发表于 2020-3-13 14:42 我用的LSM6DSOX,为啥在文档上没有看到介绍自测试的流程嘞

芯片的数据手册上一般都不会放自测试流程这么具体的信息,你可以在ST官网上下载AN5272的应用手册,其中第11章有加速度和陀螺仪在不同工作模式下的自测试流程图可以参考。

 
 
 

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