SSD保持数据完整性：Read Retry

白丁

SSD保持数据完整性：Read Retry [复制链接]

原文地址

Intel在Flash Summit上介绍了20nm工艺下保持SSD中NAND数据完整性的方法。

[url=]http://www.flashmemorysummit.com/English/Collaterals/Proceedings/2012/20120821_TC12_Frickey.pdf[/url]

[url=][/url][url=][/url]

错误概率

• 每1016bit读出现1个错
  
  
• MTBF（平均故障时间）2百万小时
  
  
• 每年平均损坏0.44%的SSD容量
  
  
• 数据室温下平均保持1年
  
  
  
  

NAND几种缺陷

如下图，只是分布图平移的可以想办法恢复，因为数据之间还是清楚隔离的。

使用多个die奇偶校验，可以挽救整个Die的报废。

[url=]Read Retry[/url]

MLC的几个数据点电压分布有可能会平移，只要几个分布没有叠加就可以恢复。[url=]Read Retry[/url]尝试用不同的参考电压来读数据，直到读出来。

Advanced Read Retry

先读附近的cell确定状态，再用不同参考电压读两次要读的cell，根据附近cell数据决定选择哪一个。

用软信息读

从图中看起来，是从不同的参考电压读到几组数据后综合得到最终数据。这个需要更强大的ECC纠错能力，如LDPC。跟Viterbi译码的软判决过程有点像。