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一粒金砂(中级)

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ic测试 [复制链接]

怎样判定芯片的真伪--CECC的建议
概述:通过外观检测,化学腐蚀及物理显微观察、简单电性能(管脚一致性对比)等方法,来检验鉴定器件是否为原半导体厂商的器件。
检验的内容:
A、货品外包装、湿度标示卡、器件日期批号等检查确认及记录
B、外观检测,器件的表面状况、印字标准、重要标志
C、器件管脚的完整性、力矩扭矩、氧化程度、可焊性(必要时)
E、开封去盖,高倍显微观察器件内部晶粒状态,辨别器件是否为仿造冒牌产品(冒牌产品可能性能可以达到原厂标准、也可能不达标)
F、微线路显微拍照分析显微拍照分析,辨别器件的表面印字是否与器件内部晶粒印字一致。(虽然型号相同、功能相同,但不是同级别的器件,以低级别的替代高级别的)
G、X光机透视器件内部状况(可选项)
H、简单的电性能的检测,参考原厂的规格书,使用简单的仪器对管脚一致性进行检测
联系人:罗女士     电话:13425156498     
电话:0755-86168546 /86168847 /86169158**转809
邮箱:sales09@cecclab.com/  网址:www.cecclab.com
MSN:assit@cecclab.com / Skype: ictest  QQ: 2650 171 809  
地址:深圳高新技术产业园中区科技中二路软件园4栋311
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