芯片厂商的某些参数会不会虚标？

名侦探柯丽

芯片厂商的某些参数会不会虚标？ [复制链接]

最近看到两个网友的帖子，关于测试芯片手册上的某些参数的问题，测出来的结果都与芯片手册上所述有差距


之前听说，市面上的充电宝会虚标，比如标一万容量的，实际可能也就七八千

那芯片厂商的某些参数会不会也出现虚标的现象？


顺便贴出来这2位网友的帖子，发烧友们不妨试试，也许他们的测试方法有问题，也期待大神们多点拨




1、gpio翻转速度测试

2、LPC1768与LPC54102数据处理速度对比讨论

chunyang

正规厂家不会，至于山寨厂，你说呢？否则还是山寨么……

exiao

测试方法不同，结果也是不同的

1071416541

芯片厂商标的不是一般都要小于实际性能的吗，芯片良品率不高的时候，可以作为低端芯片出售

wsmysyn

正规的一般不会，手册上说典型值多少，基本上就是多少，我测过一些，基本可以保证的。

山寨的不保证了，内幕就是，大多数山寨厂商芯片为了降低成本只测OS开短路（而且我还知道他们基本在哪家公司测得），其他功能一律不测，不过这些芯片也是一些简单的，容易坏是正常的，比如玩具之类的，坏了你还以为是孩子玩坏的，其实是芯片用的山寨的，芯片挂掉了。

功能复杂的芯片，可以略微放心，山寨不出来的，即使山寨出来，估计也没法用。风险太大

名侦探柯丽

wsmysyn 发表于 2015-7-16 21:09
正规的一般不会，手册上说典型值多少，基本上就是多少，我测过一些，基本可以保证的。

山寨的不保证了， ...

大神，请教
OS开短路=操作系统开短路？什么意思
另外上面那两个帖子上出现的与手册不符合的情况，谈谈你的想法
希望大神不胜赐教

wsmysyn

名侦探柯丽 发表于 2015-7-17 09:51
大神，请教
OS开短路=操作系统开短路？什么意思
另外上面那两个帖子上出现的与手册不符合的情况，谈 ...

客气了，不是什么大神，只不过碰巧工作就是测试芯片的
OS=open short，芯片引脚是否有开路或是短路的，这个是芯片最基本的测试。

他上面用的片子我没怎么接触过，听说国内M3核是有做出来的，M0核的好像国内没人做吧不太清楚，但是没用过，至于LPC是不是别人山寨的可能性不大，本身能做出来M3/M0核的已经比较牛了，不至于贴别人的标。

关于和手册有差别，我也只是猜想，
1.对方可能测试方法有些问题（比如和原厂得到这个参数用的测试电路不一样，如芯片的外围电路影响，电容电阻电感，温湿度，等等。

2.在实际量产测试并不是所有的项目都会测试的，有很多参数叫由设计保证（主要是因为量产没法测或耗费时间长成本高等。数字类（SOC，MCU等）的芯片一般都是wafer时候测一些DC参数，成品一般是功能测试，所以有的功能不一定测得到。），手册上有的数据是由小批量手动测试得到的数据，所以还算是比较严谨的，所以正规国际大厂商的片子还是有保证的，毕竟那么多工程师在用，如果参数虚标可能会被发现，不过突然冒出来几个稍微有点问题的片子是有可能的（这种情况就是临界，不失效，但是性能差一些，不过不影响正常功能）。

山寨厂商就算了，有的可能连手册都没有。

nmg

wsmysyn 发表于 2015-7-17 12:32
客气了，不是什么大神，只不过碰巧工作就是测试芯片的
OS=open short，芯片引脚是否有开路或是 ...

楼上可以谈谈芯片测试那些事儿，给坛友们长些见识

比如坛友们做开发的过程中，确定单片机坏了的方法是同样的环境，换一个管用
这方面有没有好的建议？

wsmysyn

nmg 发表于 2015-7-20 14:16
楼上可以谈谈芯片测试那些事儿，给坛友们长些见识

比如坛友们做开发的过程中，确定单片机坏了的方法是 ...

可以分享，只是现在初学，做过的测试还不是很全面，还在完善中
关于芯片坏了的确认方法，其实从用户角度来说，换一个好的芯片对比确认是最直接、最有效地。
我们确认芯片好坏一般是用测试机，直接跑程序，每一项根据limit给一个P/F。

如果没有好芯片对比的话，从经验来说，选取一下几点我常见的失效现象：
1.看设计的指标（或是datasheet），静态电流ICC比上限值都大或是比典型值小的离谱的，一般认为芯片内部有一部分电路不正常，使得内阻发生变化的。以前也遇到过，突然静态ICC翻倍了（TYP 30mA，突然变到了60mA），完整测下来有些功能就不正常了。可以测一下VCC to GND的电阻。
2.芯片上电复位有一些管脚的默认电平是明确的，测一下电压，和datasheet不一致的话，也是有问题的。
3.内部引脚开路，也比较常见一点，可能是ESD放电造成，这个以前遇到过不少，开始芯片正常，后来突然不正常，测试OS发现，引脚确实是有开路了。
4.功能测试，写一段程序进去，用示波器抓波形，这个大家都会用。而且也很快就确认了。
5.以上4条，能解决多大问题，也看情况。当然还有一些其他更有效的方法，但是需要专用设备。

其实从测试芯片角度看，和从用户角度一样差不多，我们测也需要知道芯片怎么用，只不过我们比用户多知道一些不会开放给客户的功能，和芯片内部的部分电路或是一些细节的东西
最后对于使用还是有两条建议的：

1.尽量避免误操作，非法操作，恶意操作，手册上Absolute Maximum Ratings 一定不要超过，比如引脚承受的最大电流20mA，就别超过，超过了确实是要烧掉芯片里面wire的，芯片die上的pad到外部引脚，是用金线连接的，直径一般都是25um/1.0mil，电流大了确实会把金线烧断的。

2.一定要注意ESD保护，一般情况下商业级芯片可以当做工业级用，但是ESD是多少就是多少。

3.其实测试中还有好多有意思的，限于篇幅。说多了，就当看一乐吧

nmg

wsmysyn 发表于 2015-7-20 20:07
可以分享，只是现在初学，做过的测试还不是很全面，还在完善中
关于芯片坏了的确认 ...

精彩，GET

既然限于篇幅，就等待wsmysyn开贴讲起 ：）

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芯片的一般都是大厂商，应该不会虚标吧。毕竟有那么多双眼睛在看着。。。

jishuaihu

正规厂商标的参数都能达到，而且大部分实际参数都优于datasheet上的。至于小厂，你懂的。
还有一些参数应该是理论值和实际值的差别，比如硬盘，容量理论值是1T，但是由于格式化占用，以及坏道等不能计算在内，最终达不到1G。这个虽然不是芯片，但是道理应该一样。不过对于这样的“虚标”，好像没有一个标准吧，比如1T的硬盘实际容量低于多少就不能这么标了。还有手机内存，16G的很多也就10G多一点儿，那就有点儿太坑了。

damiaa

一般还是可以的。特别是芯片。 躲后面山寨的厂家那就难说。