包络检测方法

zhxm

包络检测方法 [复制链接]

我在做一个，正弦信号的包络检测，2MHz左右，幅值1v左右，想要检出里面1mv甚至uv级的峰值变化，1mv的变化都很难提取出来，小弟初学乍道，试过一些方法，比如用rms to dc的AD637，效果非常不好，现在想用包络检测相关方法，请问目前常用的，精度比较高的包络检测法或片子有哪些？参考资料可否推荐给小弟一些。

chunyang

用收音机的那一套，检波、高频去耦，剩下的就是包络信号了。

chunyang

精度要求很高，可以用高速ADC，然后用软件来判断。

zhxm

chunyang 发表于 2015-1-26 17:02
精度要求很高，可以用高速ADC，然后用软件来判断。

谢谢啦，前辈
我说的那个精度，实际上是可以实现的嘛？10几uV也可以吗？用谐波方式对比您这个方法会好一点吗？
我像看看相位的变化，相位和幅值都想看到

chunyang

zhxm 发表于 2015-1-26 17:15
谢谢啦，前辈
我说的那个精度，实际上是可以实现的嘛？10几uV也可以吗？用谐波方式对比您这个方法会好一点吗？
我像看看相位的变化，相位和幅值都想看到

什么是“谐波方式”？
相位、幅值都要检测且精度要求高，只能用高度ADC后的软件分析法。

dontium

没见楼主说幅值的变化速度。

如果它的速度与2MHz相差很远的话，倒是可以使用直接检波。

至于精请问题，检波电路不会对精度产生影响。所以，精度是后级处理这个信号的问题而不是检波电路的问题。

littleshrimp

用两个参考波形，一上一下，加两路模拟比较器怎么样?

zhxm

chunyang 发表于 2015-1-26 17:18
什么是“谐波方式”？
相位、幅值都要检测且精度要求高，只能用高度ADC后的软件分析法。

ADC 我查了一下ADI的，一个24位精度的2.5Msps的thoughtput rate，一个18位5Msps的，24位精度差不多，但是要检出2MHz变化周期的正弦信号，好像有点困难，前辈有没有好的建议

zhxm

dontium 发表于 2015-1-26 19:01
没见楼主说幅值的变化速度。

如果它的速度与2MHz相差很远的话，倒是可以使用直接检波。

至于精请问题，检波电路不会对精度产生影响。所以，精度是后级处理这个信号的问题而不是检波电路的问题。

微弱的幅值变化也就是100Hz以下，但是变化幅度极小，mV以下。但是相位变化，也很小1度左右，怎么检出呢？有什么好方法推荐

zhxm

littleshrimp 发表于 2015-1-26 20:52
用两个参考波形，一上一下，加两路模拟比较器怎么样?

试过了，效果不好

chunyang

zhxm 发表于 2015-1-26 22:15
ADC 我查了一下ADI的，一个24位精度的2.5Msps的thoughtput rate，一个18位5Msps的，24位精度差不多，但是要检出2MHz变化周期的正弦信号，好像有点困难，前辈有没有好的建议

采样频率别忘了奈奎斯特采样定律，而且那只是理论下限，实际应用要留取适当余量。24位分辨率倒未必是必须，这要看信号幅值变化区间，要充分利用ADC的量程。

zhxm

dontium 发表于 2015-1-26 19:01
没见楼主说幅值的变化速度。

如果它的速度与2MHz相差很远的话，倒是可以使用直接检波。

至于精请问题，检波电路不会对精度产生影响。所以，精度是后级处理这个信号的问题而不是检波电路的问题。

前辈，检波这块，有什么好的书籍推荐一下，谢谢

chunyang

dontium 发表于 2015-1-26 19:01
没见楼主说幅值的变化速度。

如果它的速度与2MHz相差很远的话，倒是可以使用直接检波。

至于精请问题，检波电路不会对精度产生影响。所以，精度是后级处理这个信号的问题而不是检波电路的问题。

理解错误。对于调幅基带信号，其频率会远远低于载波频率，所以不存在是否相差很远的问题，而是一定相差的足够远。检波对基带电压的解调精度会有影响，一个是检波器本身的温度系数，一个是高频去耦电容带来的误差。而且，电容一样存在温度系数。

chunyang

littleshrimp 发表于 2015-1-26 20:52
用两个参考波形，一上一下，加两路模拟比较器怎么样?

错误的思路，完全无效。

chunyang

zhxm 发表于 2015-1-26 22:15
ADC 我查了一下ADI的，一个24位精度的2.5Msps的thoughtput rate，一个18位5Msps的，24位精度差不多，但是要检出2MHz变化周期的正弦信号，好像有点困难，前辈有没有好的建议

前帖已答。

dontium

chunyang 发表于 2015-1-27 17:43
理解错误。对于调幅基带信号，其频率会远远低于载波频率，所以不存在是否相差很远的问题，而是一定相差的足够远。检波对基带电压的解调精度会有影响，一个是检波器本身的温度系数，一个是高频去耦电容带来的误差。而且，电容一样存在温度系数。

哈哈，看来是你只知道调幅，而进一步的问题却没有关心吧。

dontium

zhxm 发表于 2015-1-27 17:34
前辈，检波这块，有什么好的书籍推荐一下，谢谢

检波的方法很多。你可以想一调幅波的数学表达式，然后想一想怎么把被调信号分离出来，就会有很多方法。--- 这是高中三角函数知识
然而，最传统、又最方便的方法是：二极管检波，这个前提是信号强度要大于检波二极管的势垒电压，并且越大越好，越大，非线性失真就越小；各种频率之间的调制（混频）就越小。

zhxm

chunyang 发表于 2015-1-26 23:19
采样频率别忘了奈奎斯特采样定律，而且那只是理论下限，实际应用要留取适当余量。24位分辨率倒未必是必须，这要看信号幅值变化区间，要充分利用ADC的量程。

考虑nyquist，2MHz正弦至少要4MSPS以上，最好20MSPS以上，1V中10uV的变化至少要17位、18位，但18位以上保证高采样率的芯片很少，可否将信号放大平移，只测量峰值附近信号？放大电路是否会引入更多的噪声影响结果？

chunyang

dontium 发表于 2015-1-27 18:42
哈哈，看来是你只知道调幅，而进一步的问题却没有关心吧。

那么，不妨谈谈你所及“进一步的问题”。楼主贴涉及的是调幅，我当然只谈调幅，至于我是不是“只知道调幅”，这个就不烦劳你下结论了。

chunyang

zhxm 发表于 2015-1-27 18:54
考虑nyquist，2MHz正弦至少要4MSPS以上，最好20MSPS以上，1V中10uV的变化至少要17位、18位，但18位以上保证高采样率的芯片很少，可否将信号放大平移，只测量峰值附近信号？放大电路是否会引入更多的噪声影响结果？

充分利用ADC量程的意思就是只关心电平变化的部分，而不能简单将信号直接送入ADC。否则，付出的将是对器件过高的要求和由此带来的高昂成本。前端电路只要设计正确，当然不会引入影响结果的噪声，否则，小信号测量岂不是不可能实现了？