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电容类元器件故障 [复制链接]

本帖最后由 jameswangsynnex 于 2015-3-3 19:54 编辑

电容器常见的故障模式主要有:击穿、开路、参数退化、电解液泄漏及机械损伤等。 其中,击穿是较为常见的一种故障模式,造成击穿的原因主要有以下几点:1)介质中存在疵点、缺陷、杂质或导电离子;2)介质材料的老化;3)金属离子迁移形成导电沟道或边缘飞弧放电;4)介质材料内部气隙击穿或介质电击穿;5)介质在制造过程中机械损伤;6)介质材料分子结构的改变等。电容在使用中非常容易发生击穿故障,导致损坏。 开路也是导致电容失效的常见故障,引出线与电极接触点氧化会造成低电平开路,引出线与电极接触不良或绝缘、工作电解质的干涸或冻结、电解电容器阳极引出金属箔因腐蚀或机械折断会导致开路,在机械应力作用下工作电解质和电介质之间出现瞬时开路等。 另外,潮湿、老化、热分解、电极材料的金属离子迁移、残余应力存在或变化、表面污染、材料的金属化电极的自愈效应、工作电解质的挥发和变稠、电极的电解腐蚀或化学腐蚀和杂质或有害离子的影响等则是造成电容电参数退化故障的诸多原因。
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