做数据采集项目时遇到的干扰问题(图)，请各位高手解惑！

lil370

做数据采集项目时遇到的干扰问题(图)，请各位高手解惑！ [复制链接]

最近做一个数据采集项目，用TI的28335与Xilinx的FPGA芯片为平台，驱动AD转换芯片，对一款MEMS加速度计进行数据采集。加速度计输出包括 加速度信号 和 温度信号。系统数据更新周期为10ms（10ms中仅有2ms采样数据，平均后输出）。

现在遇到问题见下图所示（图中为1分钟采集数据）。
加计10ms数据
加计1s平均数据
温度10ms数据
温度1s平均数据

图上可明显看出，加速度计10ms数据中存在干扰，1s平均后数据波动较明显，而温度数据无此现象。
温度信号与加速度信号并行采样，方式完全一样。

经分析，加计10ms数据中包络幅度最小时（对应1s均值数据波形的波峰） ，应该为正确值。而加计10ms数据包络幅度上下不对称，造成1s平均后存在较大波动。

恳请 大家帮助分析原因，该如何解决。

lil370

AD芯片为AD7686，16位SPI接口。
FPGA内建SPI接口，在2ms内驱动AD采样320次，并在FPGA内求和，DSP读取求和值取平均后输出。
加速度计和AD芯片参考电压采用同一片基准电压芯片供电。
加计与AD间导线约2cm。
温度传感器在加计内集成，采样方法和原理与加计完全相同。该现象时有时无，不是一直存在。

另一方案未发现该现象（通过ARM处理器端口模拟SPI接口驱动AD采样，每2ms采样30多次 ）。

若是加计问题，为什么ARM采样正确。若是采样方案问题，问什么温度正常？

并且曾在另一个项目中遇到相同现象（DSP+CPLD，采集陀螺仪数据，当时怀疑是陀螺仪问题，未作深究）。

lil370

AD芯片为AD7686，16位SPI接口。
FPGA内建SPI接口，在2ms内驱动AD采样320次，并在FPGA内求和，DSP读取求和值取平均后输出。
加速度计和AD芯片参考电压采用同一片基准电压芯片供电。
加计与AD间导线约2cm。
温度传感器在加计内集成，采样方法和原理与加计完全相同。该现象时有时无，不是一直存在。

另一方案未发现该现象（通过ARM处理器端口模拟SPI接口驱动AD采样，每2ms采样30多次 ）。

若是加计问题，为什么ARM采样正确。若是采样方案问题，问什么温度正常？

并且曾在另一个项目中遇到相同现象（DSP+CPLD，采集陀螺仪数据当时怀疑是陀螺仪问题，未作深究）。

youki12345

看不到图片哦。