提问+求一种分离交流直流的方法

mylsf

提问+求一种分离交流直流的方法 [复制链接]

我以前的一个项目是只测试交流的大小和相位，不测试其中的直流成分，所以直接用变压器给隔离了。

现在要增加测试直流成分。

也就是现在要分别测量交流直流其大小，并且要测量交流成分的相位

以前的是取得交流变量后用AD转换，然后傅立叶分离幅值和相位信息，最后的精度是大概1%。

现在也要保证其精度，请问各位大神有什么想法？交流直流成分大概都是20V左右，要测量电压范围0到50保证精度

mylsf

有人知道没有？

mylsf

自己顶一下

youluo

只需要测量还是需要将直流交流分离？直流的成分里面交流只有一个频率还是有多个频率？

chunyang

只能用电阻采样，需隔离的话，在后级进行。

mylsf

youluo 发表于 2014-2-22 16:23
只需要测量还是需要将直流交流分离？直流的成分里面交流只有一个频率还是有多个频率？

只要能分别测出来大小就可以了，频率只有一个

mylsf

chunyang 发表于 2014-2-22 19:13
只能用电阻采样，需隔离的话，在后级进行。

嗯，我以前是用的STM32自带的ADC只是测试交流成分，用了17:1的变压器能保证测的最大50V，精度也刚刚好。
如果现在交流直流都测的话精度怎么能保证呢，还是为了精度，多用一个IO口呢。

chunyang

mylsf 发表于 2014-2-24 13:56
嗯，我以前是用的STM32自带的ADC只是测试交流成分，用了17:1的变压器能保证测的最大50V，精度也刚刚好。
...

用电阻采样的精度只会更高。设计思路是：用高精度、低温漂的采样电阻取出即时电流数据，然后送高精度运放电路放大，然后送AD，量程很大时还需要采用程控放大来取得合适的增益。如果需要隔离，在运放后采用VF变换传输模拟信号，精度要求不太高时还可以用线性光耦或磁耦合器件。另一个隔离方法是利用外置AD，然后用光耦隔离其数字输出端，这更简单，但对前级系统的设计水平要求更高。

mylsf

chunyang 发表于 2014-2-24 15:46
用电阻采样的精度只会更高。设计思路是：用高精度、低温漂的采样电阻取出即时电流数据，然后送高精度运放 ...

我先消化一下，内容好丰富

mylsf

chunyang 发表于 2014-2-24 15:46
用电阻采样的精度只会更高。设计思路是：用高精度、低温漂的采样电阻取出即时电流数据，然后送高精度运放 ...

我刚才思考第一种方案了，我想为什么不直接用合适的电阻呢，这样就不用运放了。
现在明白了，应该是更好的保证精度，数据的稳定，电阻选大一点，发生固定值的误差所产生的影响相对更小，是么，请问我的理解对么？

chunyang

mylsf 发表于 2014-2-24 17:16
我刚才思考第一种方案了，我想为什么不直接用合适的电阻呢，这样就不用运放了。
现在明白了，应该是更好 ...

电阻能选多大要看回路是否受影响，电阻本身的热噪声和精度指标是相对值，跟阻值无关。通常而言，在不影响测量回路的前提下，阻值适当取大一点为佳，因为过弱的信号放大起来很困难，对电路的要求更高，成本也会因此上升。