Andrew Armutat 产品市场部 吉时利仪器公司
2602型双通道系统源表
典型的测试设备结构
当我们在选择生产测试设备时,考虑前面提到的三大类系统是大有裨益的:
u 单机/单通道I-V解决方案
u 并行I-V测试系统
u 可随意组合的多通道系统
单机/单通道I-V解决方案――常适合于对成本不是特别敏感的应用。在此类应用中,可采用较低速的源-测量架构。多个源-测量单元(SMU)可与开关矩阵一同使用,构成多通道系统,但是这种配置限制了机架密度及系统吞吐量不能很高。在较小规模的系统中,一般由PC机控制,通过GPIB或外部触发来控制SMU。但是,其中有一些系统具有内部的程序存储器,可允许在没有PC机控制情况下储存和执行测试序列,减少了速度相对慢的GPIB接口通信量。通常,对SMU没有程序存储功能或有程序存储功能但容量有限制时,用户开发由PC控制执行的测试应用程序(采用SCPI 命令)是十分必要的。
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