STM32的ADC测试还算不错，可惜没有差分通道（附图）

kmmmmy

STM32的ADC测试还算不错，可惜没有差分通道（附图） [复制链接]

图片是实际的采集数据

板子是英蓓特的DEMO板；

程序是随机的ADC目录下的程序，硬件设置没动，修改了输出方式，增加了过采样设置，连续累加4096次ADC结果，但是除以256，相当于扩展了16倍，使输出数据打到了16位，而不是原来的12位。

由于每秒256组数据上传时，电脑接收端会出现不能正确换行的问题，因此DEMO软件里进行了简单的屏蔽处理：丢弃15个输出数据不处理，然后发送一个，接下去再丢弃15个数据........这样实际的数据是16次/秒。

下面是连续采样一顿晚饭的时间的数据图：

https://bbs.eeworld.com.cn/upfiles/img/200712/2007122918923952.gif

zjiulong

那个提供信号的电位器离开芯片太远，而且CPU有使用了搭背式，使得信号源的电压和CPU的电压以及参考电压相差明显，很多噪声会夹杂其中，我用4位半的数字万用表就能测量出电压差来，达到mv级！

还有用电位器做信号源本身也不是很稳定。

如果解决了这些硬件上的因素，ADC的稳定性再提高1位估计是完全可能的。

只是没有差分通道输入方式，正在为此伤神啊，动动脑筋，让它成为“伪差分”

smset

虽然信号离散性比较大，使用过采样表现出来的特征还是不错的

不过和楼上用万用表测量的结论是不一样的，我也是用了4.5位表（读数范围0~80000），证实ADC输入电压的跳动量在0.2MV以内，说明还是ADC本身的离散性比较大。

mysunshine

                                 有点不爽~~~看看AVR的差分增益吧...虽然它的ADC不怎么样,不过功能齐全...

happy0104

                                 一直没用过ADc  现在马上试试