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一粒金砂(初级)

楼主
 

不知STM32的ADC是否以后有差分带增益功能 [复制链接]

像AVR,C8051F单片机等都差分带增益的ADC

差分带增益的ADC主要用于测量电流或电位差.

由于电压基准Vref都很低,一般<=VCC.而输出的测量电压一般都大于Vref.

所以在ADC的管脚输入前要先衰减即分压.但分压必然带来原测试点分辨率的降低.

要想显示或输出测试结果,必须设置软件增益才能得到原值.

由于模拟衰减和数字增益的差异,精度就损失很多.所以12位的ADC实际上也是不能满足要求的.

这在测试电位差(或电流)上反映最为明显.

举个高压侧电流检测的应用:

假使采样电阻为20毫欧,电流为1A,则两端电压差为20mV.但电压在12V左右.

假如Vref=3V.则必须1/4分压才能满足<=Vref和IO高压钳位的条件.

那么,本来的电差20mV也被1/4即只有5mV.

所以5mV/3000mV得到的转换结果为4096*5/3000=6.8

哈哈~~~那么电流为0.1A时,转换结果为4096*0.5/3000=0.68--->晕!!!这给谁看???

如果内部带增益差分就会大大提高采样的精度而不需要外部差分放大...

提点意见供香主参考~~~想想AVR,C8051F单片机活的是否有道理???

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                                     详情 回复 发表于 2008-5-18 12:05
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一粒金砂(中级)

沙发
 

谢谢大叔深入浅出的讲课,受益匪浅

还是大叔了解俺,俺是学计算机的,不是学电子的,但这堂课俺听懂了,可以跟法国人理论理论了。

谢谢,谢谢,谢谢!
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一粒金砂(初级)

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外围的高压侧电流检测,差分增益的ADC芯片好的都在40元左右

LM的ADC就带差分功能,但未见带增益的.

当测试电位差不带差分,STM32就必须把2个电位的信号接到ADC1/ADC2上同时测试,然后进行软件减法处理.

虽然STM32可以暂时躲过"差分"这一关,但软件的编程难度肯定要增大.

如果用1路2次测试再软件减法处理,那么2次采样间隔肯定会有不小的误差,除非很快忽略不计~~~

外围的高压侧电流检测,差分增益的ADC芯片好的都在40元左右
如果STM32带此功能即使贵10元也有人觉得这是"白菜价"~~~
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一粒金砂(初级)

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请教大叔,STM32内置两个独立的ADC模块,并可同步运行

“如果用1路2次测试再软件减法处理,那么2次采样间隔肯定会有不小的误差,除非很快忽略不计~~~”

使用这2个独立的ADC模块同步采样是否能够消除您说的“2次采样间隔的误差”?



不过您提的这个建议,俺会向我们的设计师反映,但在带新功能的芯片设计出来之前,是否能用2个独立的ADC模块缓解这个问题呢?
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一粒金砂(初级)

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到了软件上,已经没用了...

一个ADC结果是250,另一个结果是252,结果偏差还是只有2...
必须要在硬件上先放大,然后再进ADC,例如放大10倍,才能得到结果20...
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一粒金砂(初级)

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哈哈~~~00只说对一半或全错~~~

应该先差分后放大~~~

像我说的这个功能是直接进不了MCU的~~~

必须先外围衰减/分压满足<=Vref的条件后才能在MCU内部先差分后放大.

而且往往还要测试压差的某一点电压值.

可请香主看看AVR的ADC~~~它的ADC功能做的很好,就是ADC为10不太好和增益档位有些少~~~
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晕...还不是跟我说的一样...肯定是要先差分才能放大了

                                 如果超过输入共模电压范围,还要先分压才能让差分放大器正常工作。
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一粒金砂(初级)

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哈哈~~~考场是是不带"默认"功能的~~~

computer00 发表于 2008-1-15 22:51 ST MCU ←返回版面    

5楼: 到了软件上,已经没用了... 

一个ADC结果是250,另一个结果是252,结果偏差还是只有2...
必须要在硬件上先放大,然后再进ADC,例如放大10倍,才能得到结果20...
 
 
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哈哈!

                                 外加两个OP07,第一个差分输入,输出端在由第二个OP07放大,放大电阻由数字开关选通不同阻值,实现放大不同倍率。
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一粒金砂(初级)

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哈哈~~~这就是搞硬件跟搞软件的人的区别了~~~

                                  
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但是,内部的RAM太小了

                                 我就没办法解决了!外扩spi 的 ram 型号找到了,买不到!
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一粒金砂(初级)

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这次00得满分,同情狼友的"买不到"---村里这是常事~~~

                                  
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我觉得楼主的提议很好

我觉得楼主的提议很好。AVR就有这个很好的功能,增益可达20倍。
我觉得STM32需要增加比较器与差分增益的功能。
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M16以上好象至少100倍

                                  
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AVR的ADC作差分或者放大的话好像会大大损失ADC的分辨率吧

                                 原来就只有10BIT,最后大概只能8BIT以下好像
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一粒金砂(初级)

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损失ADC的分辨率???实际是符号位变为了9位,T26除外

                                  
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加个差分放大要不了那么贵的

                                 做电子称的芯片AD都带差分放大的
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关键是共模电压范围不够,干啥都是白说了

                                 还没发现那个MCU内置的ADC共模可以做的几十V的,不知道大家看到过么?
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一粒金砂(初级)

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电流高端检测还是用专用放大器吧

18楼有理。
我觉得让cpu支持电流高端检测不大现实。我一般用INA138之类。反正用得不多,1个美金还不算吃人
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一粒金砂(初级)

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哈哈~~~电流高端检测用T26L就不错,可惜容量太小

                                  
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