高亮度LED的可靠性试验以及失效模态

探路者

高亮度LED的可靠性试验以及失效模态 [复制链接]

　LED模组和灯具的典型失效模式包含了不同层次的失效模式，涉及到LED封装结构以及工艺过程（如表1）。LED在实际使用中，由于复杂的环境以及封装工艺局限性从而使封装材料退化、荧光粉退化、金属电迁移、局部温度过高产生的热应力所引起的芯片和硅胶的分层或金线断裂等等，从而影响LED发光甚至导致整个LED的失效。而且LED产生的高温会导致芯片的发光效率降低，光衰加快、色移等严重后果。

由于LED寿命长，通常采取加速环境试验的方法进行可靠性测试与评估。加速度测试将会模仿灯具的应用条件或用户要求，这样可以更有效地研究各种破坏机理，提供大量数据去研究LED的结构、材料、工艺从而更好完善LED产品。一些典型的加速可靠性试验

如冷热循环,高温高湿 关机测试,震动测试等

　　然而，加速老化试验只是研究问题的一个方面，对LED寿命的预测机理和方法的研究仍是有待研究的难题。现在的LED技术面临着巨大的挑战和机遇。企业的目标主要是保证产品长期的可靠性，例如，根据产品不同，LED应用的范围寿命从7000小时到50000~100000小时不等。这对于一个电子企业是有相当挑战性的，因为他们的电子产品现在只有2-3年寿命。对于50000~100000小时的SSL系统（包括电源驱动），有必要进行可靠性设计，以符合产品的高要求。

　　目前，如何通过加速老化试验准确地预测LED产品的可靠性还是相当有挑战性的。对于LED产品的长期可靠性，应当关注如何建立用加速试验来反映产品中出现的问题。对于了解和预测宏观系统的可靠性，可测性非常具有挑战性，主要是因为可靠性是一个多学科的问题，并且涉及到材料、设计、制造工艺、试验和应用条件。因此，有必要开发LED灯和灯具的加速试验以及户外照明灯具性能测试实验，从而可以有效地研究关于LED的各种破坏机理