世界顶级高精度薄膜光学测量仪器

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世界顶级高精度薄膜光学测量仪器 [复制链接]

世界顶级高精度薄膜光学测量仪器FilmTek系列产品，厂商：美国SCI 公司

可测参数：
1）单层或多层薄膜(可达50层)，厚度 （<1? to 250 um)
2）反射率R和透射率T
3）折射率n和吸收系数k
4）能带间隙
5）表面粗糙度和损伤度
6）成份和结晶程度

适用于高精度的薄膜量测，广泛应用于OLED, LCD, 半导体行业和光电行业等。

联系方式：中电网EMD(半导体设备与材料部) 上海办 

emdservice@chinaecnet.com  和电话021-61021225