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【NUCLEO H533RE】ADC差分输入测试 [复制链接]

1、测试介绍

本测试使用STM32H533的ADC1通道的差分测试,配置和使用 ADC1 在差分模式下转换外部模拟输入,即 VinN 和 VinP 上的外部电压之差。测试除了NUCLEO H533RE开发板外还使用了过程校准仪生成测试信号,且使用开发板自带的串口打印输出测试电压。

2、硬件连接

H533RE与过程校准仪连接

H533RE  PA1 ADC INP  <===> PIN1 DC+ 

H533RE  PA0 ADC INN  <===> PIN2 DC-

3、参数配置

(1)系统时钟设置

  系统时钟设置:外部晶振24MHZ,系统时钟为250MHZ,SysTick 时基设置为 1 毫秒。

ADC外设的时钟为64MHZ

 (2) ADC 参数设置

  使用ADC1外设通道CH1,模式为差分输入。分辨率为12bit,时钟分频为2分频,即64Mhz=32Mhz ADC1工作频率。STM32的ADC最高的工作频率为36Mhz,过高的频率对于采样精度有影响。

数据格式对其为:Rigth,输出数据16bit,但是高位4bit无效。

4、程序与工作原理

程序过程定义两个接收变量,差分输入除去数值还有正负反向。

/* Converted value declaration */
uint32_t                 uhADCxConvertedData;
/* Input voltage declaration */
int32_t                  uhADCxConvertedData_Voltage_mVolt;

采集过程采用查询模式进行,程序在HAL_ADC_PollForConversion()处阻塞。

    /* USER CODE END WHILE */
    if (HAL_ADC_PollForConversion(&hadc1, 10) != HAL_OK)
    {
      Error_Handler();
    }

    /* Read the converted value */
    uhADCxConvertedData = HAL_ADC_GetValue(&hadc1);

    /* Computation of ADC conversions raw data to physical values             */
    /* using helper macro.                                                    */
    uhADCxConvertedData_Voltage_mVolt = __HAL_ADC_CALC_DIFF_DATA_TO_VOLTAGE(VDDA_APPLI,uhADCxConvertedData, ADC_RESOLUTION_12B);
		
	printf("adc=%d \n\r",uhADCxConvertedData_Voltage_mVolt);
		
	HAL_Delay(500);
    /* USER CODE BEGIN 3 */

使用printf()输出测量数据。

5、测试过程

(1)使用过程校准仪输出500mV和1000mV电压,但是无论怎么改变电压输出都是一个定值。而且MCU重启重启之后数值都是随机值。

 

1000mV重启值。

 

 

 

 

6、总结

本次测试从过程来看好像没有成功,但是无法找到任何原因。程序参考例程:ADC_DifferentialMode

该开发板的ADC的例程,前面出现过死机现象,本次测试发现ADC读取的数值异常。对于该芯片我比较看好,但是这些测试的原因请ST公司能够给与帮助。需要的详细过程可以联系楼主本人。

附录项目文件: adctest.zip (7.05 MB, 下载次数: 1)

 

 

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谢谢分享,期待后续!   详情 回复 发表于 2024-8-20 18:01
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