【NUCLEO-U083RC】DAC输出与内置比较器测试

bigbat

【NUCLEO-U083RC】DAC输出与内置比较器测试 [复制链接]

测试介绍

这次测试是一次复合测试，完成了DAC和COMP两个测试，该测试是测试STM32U083的DAC和内部的比较器测试，测试通过DAC生成电压信号，然后将电压信号引入MCU的内部运放电路，通过设置比较条件观察测试结果。

硬件使用STM32U083 MCU的NUCLEO-U083RC开发板，需要使用MCU的DAC1外设，COMP1外设。LED4作为比较指示,LED4亮标志有中断发生。

使用BUTTON按键，改变DAC输出的值。

将PA1和PA4使用导线连接起来。按压BUTTON改变设置，直到LED4亮起。

硬件连接与设置

DAC设置：外设：DAC1，输出方式：外部输出

COMP设置：外设：COMP1，比较电压：1/2内部参考源，中断打开。

COMP1设置

DAC1设置

BSP设置，使用LED4和按键BUTTON1，打开按键的中断

测试程序与工作原理

COMP比较器，的比较输入是物理引脚PA1。比较参考：内部参考源和外部参考源，也可以是DAC的通道，比较输出结果：可以使用查询方式，也可以使用中断方式，本测试使用中断方式，同时也可以使用输出到物理引脚，这种方式不需要MCU的参与，响应速度非常快。

测试中使用了BUTTON1按键，启用了按键的中断模式，在中断中设置UserButtonStatus值，来驱动测试。

/**

* @brief EXTI line detection callbacks

* @param GPIO_Pin: Specifies the pins connected EXTI line

* @retval None

*/

void BSP_PB_Callback(Button_TypeDef Button)

{

UserButtonStatus = 1;

}

主程序中查询UserButtonStatus值修改DAC的输出电压。

if (UserButtonStatus == 1)

{

UserDACValue = (UserDACValue + 10) % 4096;

if (HAL_DAC_SetValue(&hdac1, DAC_CHANNEL_1, DAC_ALIGN_8B_R, UserDACValue) != HAL_OK)

{

/* Setting value Error */

Error_Handler();

}

UserButtonStatus=0;

}

整个程序不是非常复杂。

比较器中断程序。

/**

* @brief Comparator interruption callback

* @note This function is called when comparator threshold is triggered.

* @param hcomp COMP handle

* @retval None

*/

void HAL_COMP_TriggerCallback(COMP_HandleTypeDef *hcomp)

{

/* Set LED state in function of comparator output level */

if (HAL_COMP_GetOutputLevel(hcomp) == COMP_OUTPUT_LEVEL_HIGH)

{

BSP_LED_Off(LED4);

}

else

{

BSP_LED_On(LED4);

}

测试过程

将引脚PA1和PA4连接，板子上电

开始LED4是熄灭状态。

开始按压BOTTON1，连续按压几次。

LED4亮起，说明中断起作用了。

测试总结

这是第一次测试COMP输出没有经验，整个测试其实是分开做的，开始参考DAC_SimpleConversion例程，调试DAC输出。然后驱动按键，在测试过程中，按键的中断过程怎么也起做，但是中断程序能进入，这让我感到奇怪，后来发现是BSP版本问题，使用正确的版本之后完成。主要是：BSP_PB_Callback文件名称造成的，注意使用BSP驱动里声明的名称。

按键调试好之后，调试COMP的程序，参考了COMP_CompareGpioVsVrefInt_IT程序，整个过程用了2天的时间，才把COMP搞明白了。

bigbat

本次测试使用的源代码，

DACCMOP.zip (990.53 KB, 下载次数: 2)

小鳄鱼_A

感谢分享

【NUCLEO-U083RC】DAC输出与内置比较器测试 [复制链接]

最新回复