HC32F4A0开发板环境适应性试验
1概述
1.1开发板简述
HC32F4A0系列支持宽电压范围(1.8~3.6V),宽温度范围(-40~+105℃)和各种低功耗模式。支持低功耗模式的快速唤醒,STOP模式唤醒最快至2μs,Power Down 模式唤醒最快至25μs。该芯片的温度范围满足(-40℃~+85℃)的工业级温度范围。
1.2试验流程
将开发板至于环境试验箱内部,设定温度为-40℃,此时开发板处于未通电状态,到温后保温两小时,进行冷启动,验证开发板是否工作正常;然后将试验箱温度设置为+70℃开始升温,开发板全程处于工作状态,到温后保温一小时,观察整个过程中开发板工作过程有无异常;设备连接方式如图1所示。
图1 设备连接示意图
1.3测试设备
本次测试所用设备如表1所示,设备实物图连接图如图3所示:
测试设备 |
单位 |
数量 |
EV_F4A0_LQ176_REV1.0开发板 |
块 |
壹 |
ARM仿真器 |
个 |
壹 |
5V电源适配器 |
个 |
壹 |
ZLG USBCANFD-200U |
个 |
壹 |
爱斯佩克ESPEC EG-02KA环境试验箱 |
台 |
壹 |
表1 测试设备
2试验方法
将开发板连接信号线放入纸盒中防止开发板和环境试验箱中的金属铁架接触造成短路,将带屏蔽层的双绞线连接到开发板的插座上,通过试验箱侧面的孔洞引出,连接电源线打开开发板上的船型开关,通过外部控制开发板的通断如图2所示,电缆连接示意图如图3所示,试验所用试验箱为爱斯佩克ESPEC EG-02KA环境试验箱如图4所示。
图2 开发板连接示意图
图3 电缆连接示意图
图5 环境试验箱
3试验过程
3.1负温
设定温度为-40℃如图5所示;保温两小时。
图5 -40℃
3.2正温
负温到温后两小时完成测试后设定为+70℃如图6所示。
图6 +70℃
4试验结果
开发板处于负温下两小时后,冷启动正常,CAN回传数据正常,但通过视窗观察屏幕不亮,查阅屏幕资料发现屏幕工作温度为-20~70℃,因此初步判断为屏幕在-40℃环境下无法工作;转正温过程中CAN回传数据正常,屏幕在-13.7℃时恢复正常显示,+70℃到温后两小时内CAN数据回传正常,屏幕正常点亮。
5试验结论
该芯片在-40~70℃的温度范围内CAN通讯工作正常,符合手册所描述的宽温度范围,因测试设备限制无法对芯片进行全面的环境适应性测试,测试结果仅供参考,因个人试验无法保证试验过程的科学性、完善性和严谨性、因此该试验结果无法作为环境适应性的佐证,测试结果仅适用于该文章,对于测试结果的使用、使用所产生的直接或间接损失及一切法律后果,本人不承担任何经济和法律责任;若要进行芯片选型及成品设备环境适应性测试时应参考相关国标及企标,制订完整的环境适应性试验大纲,交予有相关资质的专业测试机构进行试验,并出具相关报告后方可进行。