超大规模集成电路测试：数字、存储器和混合信号系统

arui1999

超大规模集成电路测试：数字、存储器和混合信号系统 [复制链接]

 

本书系统地介绍了这三类电路的测试和可测试性设计。全书共分三个部分。部分是测试基础，介绍了测试的基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分是测试方法，详细论述了组合和时序电路的测试生成、存储器测试、基于DSP和基于模型的模拟与混合信号测试、延迟测试和IDDQ测试等。第三部分是可测试性设计，包括扫描设计、BIST、边界扫描测试、模拟测试总线标准和基于IP核的SOC测试。

 

https://download.eeworld.com.cn/detail/solarelec/606875

fjdeepblue

非常好的电子书，清晰度高，下载保存了，谢谢分享

dstyangtao

学习一下，谢谢！