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吴建飞 芯片电磁兼容测量设备带状线小室的研究进展 [复制链接]

随着芯片产业的迅速发展,越来越多的高频电路被集成到芯片中,提高了
芯片的工作频率,同时也带来了严重的电磁兼容(EMC)隐患[1]。带状线小室
是测量芯片辐射发射和抗扰度的重要设备,其结构简单易操作,能快速测出芯
片的敏感频点和对外的电磁辐射,因而广泛应用于芯片电磁兼容(IC-EMC)领域。

   

吴建飞 芯片电磁兼容测量设备带状线小室的研究进展.pdf (3.18 MB, 下载次数: 0)

 

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