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随着芯片产业的迅速发展,越来越多的高频电路被集成到芯片中,提高了 芯片的工作频率,同时也带来了严重的电磁兼容(EMC)隐患[1]。带状线小室 是测量芯片辐射发射和抗扰度的重要设备,其结构简单易操作,能快速测出芯 片的敏感频点和对外的电磁辐射,因而广泛应用于芯片电磁兼容(IC-EMC)领域。
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