图2:e型和d型HEMT的简化器件横截面(图片来源:GaN Power International) 在大多数功率应用中,从系统实现的角度来看,正常开启的器件是非常不可取的。因此,如图1所示,d模式HEMT通常与级联低压(LV)Si MOSFET或直接驱动方法结合使用。现在,让我们更详细地看一下这些选项中的每一个。
E模式 商业上最受欢迎的e型HEMT结构是在栅极上使用p-GaN层,如图1所示。实现的典型Vt范围为1-2V。HEMT在开关应用中的固有优势得以保留,开关损耗可以更低。e模式器件的主要缺点之一是其低Vt,这可能导致栅极对噪声和dV/dt瞬变的抗扰度较差。出于可靠性原因,最大栅极电压通常限制在6-7V,可能需要负电压来关断器件。封装和栅极电阻(Rg)选择对于确保安全可靠的器件操作变得更加重要。低栅极电感(Lg)和公共源电感(Lcs)可确保过冲和振铃控制,以防止器件误导通。可能需要有源米勒钳位以及与源极的开尔文连接,以改善栅极电压控制。硬开关应用中的死区时间损耗也可能很大,特别是在负栅极电压条件下,因为缺少续流二极管会产生较高的反向源极漏极(Vsd)电压。 多家公司提供E模式氮化镓产品,如Navitas、高效功率转换(EPC)、氮化镓电源国际(GaN Power International)、GaN Systems、英飞凌、英诺科(Innoscience)、剑桥氮化镓器件(Cambridge GaN Devices)、Rohm、意法半导体和Wise Integrations。鉴于上述栅极驱动的限制,许多人选择了一种更加集成的方法,我们将在下面讨论。
栅极驱动鲁棒性 Cambridge GaN Devices(CGD)创造了一个集成了栅极驱动电平转换器的单片芯片。有效Vt增加到3V,使其与现成的栅极驱动器兼容。该集成包括一个用于高dV/dt操作的米勒箝位。集成的开尔文和源电流检测允许在无需额外源电阻器的情况下进行栅极监视和控制,从而使FET源极焊盘直接粘接到接地层以改善冷却。