米尔MYC-YT507开发板测评:性能测试之三:存储性能测试

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米尔MYC-YT507开发板测评:性能测试之三:存储性能测试 [复制链接]

 

前言

对于越来越高端的嵌入式芯片,尤其用于汽车人机,AI,边缘计算等场景的高性能CPU,其综合性能是一个关注点,我们之前已经进行过CPU的coremark测试,其性能和国际主流芯片大厂类似芯片是差不多的，板子的性能不仅仅和CPU相关,综合来看的画存储部分也是一个很重要的部分,所以我们针对存储部分进行性能测试。

RAM性能测试

WSL中

 

git clone

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cd STREAM/

 

export PATH=$PATH:~/MYD-YT507H/gcc-linaro-7.4.1-2019.02-x86_64_aarch64-linux-gnu/bin

 

aarch64-linux-gnu-gcc -O3 stream.c -o stream

 

cp stream /mnt/e 导出到WINDOWS下,下载到开发板

 

chmod +x stream

 

./stream  

 

运行结果如下

 

参考https://www.cs.virginia.edu/stream/ref.html

RAM压力测试

参考 https://pyropus.ca./software/memtester/

 

wget https://pyropus.ca./software/memtester/old-versions/memtester-4.5.1.tar.gz

 

tar -xvf memtester-4.5.1.tar.gz

 

cd memtester-4.5.1/

 

export PATH=$PATH:~/MYD-YT507H/gcc-linaro-7.4.1-2019.02-x86_64_aarch64-linux-gnu/bin

 

aarch64-linux-gnu-gcc -O3 memtester.c tests.c -o memtester

 

cp memtester /mnt/e

 

导出到WINDOWS下,下载到开发板

 

chmod +x memtester

 

./memtester

 

运行结果如下,默认一直测试下去,可以最后指定测试次数

比如

./memtester 512M 1

512M表示测试RAM大小

1表示测试一次

另外也可以-p直接指定物理地址,适合在板子开发阶段裸机代码直接指定物理地址测试。

 

 

对于RAM我们一般会关注其可靠性,一般会考虑在不同温度,电磁环境等进行对比测试,我这里条件有限不再测试。

 

EMMC性能测试

 

查EMMC版本

 

 

其中mmc0: new high speed MMC card at address 0001表示emmc 设备支持的时钟模式:

Speed Mode	clock (MHz)
Default Speed	26
Hight Speed SDR	52
Hight Speed DDR	52
HS200	200
HS400	200

SDR : 单边沿采样

DDR : 双边沿采样

 

其中mmcblk0boot0,mmcblk0boot1,mmcblk0rpmb为物理分区

所以我们这里x8-bit理论最大吞吐量应该是52MB/S。

 

输入df回车

我们看到EMMC有两个分区

/dev/mmcblk0p4

/dev/mmcblk0p8

 

 

 

输入mount回车

 

我们看到两个分区分别挂载在

/根目录

和

/media

 

ls /media查看里面没有文件

我们就拿/media  /dev/mmcblk0p8作为测试

 

测试命令

 

读

dd if=/dev/mmcblk0p8 of=/dev/null bs=块大小 count=块数量

写

dd if=/dev/zero of=/media/test.bin bs=块大小 count=块数量

测试记录如下

 

 

 

 

 

 

 

	bs/count  1GB	指令	结果
读	16k/65536	time dd if=/dev/mmcblk0p8 of=/dev/null bs=16k count=65536	45.124MB/S
	4k/262144	time dd if=/dev/mmcblk0p8 of=/dev/null bs=4k count=262144	45.118MB/S
	1k/1048576	time dd if=/dev/mmcblk0p8 of=/dev/null bs=1k count=1048576	45.096MB/S
写	16k/65536	time dd if=/dev/zero of=/media/test.bin bs=16k count=65536	33.524MB/S
	4k/262144	time dd if=/dev/zero of=/media/test.bin bs=4k count=262144	33.379MB/S
	1k/1048576	time dd if=/dev/zero of=/media/test.bin bs=1k count=1048576	32.395MB/S

 

从上测试来看读与最大52MB/S的吞吐量差不太多,写的速率也有33MB/S性能是不错的。

SD卡性能测试

与EMMC测试方法类似,并且和SD速率相关这里不再测试。

 

总结

RAM和EMMC等关键存储器件性能也是不错的,可以满足边缘计算,人机交互,车载等各类高性能应用场景需求。